掃描探針顯微鏡SPM-9700·觀(guān)察倍率:千~數(shù)百萬(wàn)倍
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導(dǎo)顯微鏡,掃描電化學(xué)顯微鏡等)的統(tǒng)稱(chēng),是國(guó)際上近年發(fā)展起來(lái)的表面分析儀器,是綜合運(yùn)用光電子技術(shù)、激光技術(shù)、微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)、機(jī)械設(shè)計(jì)和加工、自動(dòng)控制技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)、應(yīng)用光學(xué)技術(shù)、計(jì)算機(jī)高速采集和控制及高分辨圖形處理技術(shù)等現(xiàn)代科技成果的光、機(jī)、電一體化的高科技產(chǎn)品。
可測(cè)定高度: 5um,15um〔選配】·樣品尺寸:24mmx8mm
可在大氣中簡(jiǎn)單的進(jìn)行高倍表面觀(guān)察,可直接觀(guān)察非導(dǎo)電樣品,并可測(cè)定樣品表面的高程差。探針可測(cè)定樣品的物理性質(zhì)。追加可控氣氛分析室可升級(jí)為可控氣氛SPM。