納米檢測顯微鏡
OLS4500
畸在痔缺光學(xué)是隳性、激完掃超邐隳佳(LS以及掃擇探針堂微×SPM)間輕松切接,從而實現(xiàn)幾十信到百萬信的連絨放大。
觀褻對象生位輕松準魂。在大夫維楚了獲草圖像時問的同時保護了探鐘。并可獲取多種觀察于經(jīng)對同一對象的觀測數(shù)擔(dān)。雅高了對觀測趟萊解釋的準確性和可信度
利用光學(xué)顯微鏡搜索目標(biāo)區(qū)域,利用SPM可以方便地進行高分辨率觀察。利用與表面形狀圖像相同的視場可以獲得其他物理特性信息
豐富多樣的掃描模式
從形貌觀察到基于力曲線測量的物性分析,支持廣泛的掃描模式。這意味著可以兼顧高分辨率與物性測試。
搜尋目標(biāo)區(qū)域更容易
利用清晰地光學(xué)顯微鏡圖像,可以輕松找到目標(biāo)區(qū)域,不用擔(dān)心振動的影響。
SPM-Nanoa集成了一體式高性能光學(xué)顯微鏡。