美國(guó)GGB直流探針（軟針）
?T-4 系列軟針較多的應(yīng)用于點(diǎn)測(cè)集成電路的線路，電極，或者 FIB(聚焦離子束) 制作的 mini 電極。
?T-4 系列軟針的結(jié)構(gòu)采用不同直徑鎢材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。
美國(guó)GGB直流探針（軟針）
•T-4 系列軟針較多的應(yīng)用于點(diǎn)測(cè)集成電路的線路，電極，或者 FIB(聚焦離子束) 制作的 mini 電極。
•T-4 系列軟針的結(jié)構(gòu)采用不同直徑鎢材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。
•其中 T-4-10 和 T-4-22 兩款是客戶反饋比較有優(yōu)勢(shì)的型號(hào)，因?yàn)槠溽橅氈睆捷^細(xì) ，具有良好的彎曲彈性 ，能夠極大的減少對(duì)芯片電極的損害 ，在部分震動(dòng)環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸。
T-4 系列硬針規(guī)格
型號(hào) | 鎢材質(zhì)針須直徑 | 針尖直徑 | 針須長(zhǎng)度 | 備注 |
T-4-5 | 5 micron | <0.2micron | 0.13" (3.3mm) | 5pc/box |
T-4-10 | 10 micron | <0.2 micron | 0.13" (3.3mm) | 5pc/box |
T-4-22 | 22 micron | <2.0 micron | 0.20" (5.1mm) | 5pc/box |
T-4-35 | 35 micron | <4.0 microns | 0.20" (5.1mm) | 5pc/box |
T-4-60 | 60 micron | <6.0 microns | 0.20" (5.1mm) | 5pc/box |
T-4-125 | 125 micron | <10.0 microns | 0.20" (5.1mm) | 5pc/box |
美國(guó)GGB直流探針（軟針）
具體測(cè)試圖片如下：
優(yōu)測(cè)國(guó)芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導(dǎo)體和自動(dòng)化設(shè)備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術(shù)企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)于一體，不僅擁有*的生產(chǎn)設(shè)備、加工工藝及品質(zhì)檢測(cè)體系，也擁有涉及材料、物理、化學(xué)、微電子、機(jī)械等專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)。現(xiàn)在主營(yíng)的產(chǎn)品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動(dòng)探針臺(tái)、高壓大功率探針臺(tái)、真空高低溫探針臺(tái)，半自動(dòng)探針臺(tái)，全自動(dòng)探針臺(tái)等，可以完成I-V/C-V測(cè)試，脈沖I-V測(cè)試，RF/mmW測(cè)試，高壓、大電流測(cè)試，MEMS、光電器件等測(cè)試。專業(yè)的設(shè)計(jì)人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽(yáng)能發(fā)生器、多普勒測(cè)試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺(tái)功能上進(jìn)行延伸拓展來(lái)滿足不同客戶的測(cè)試需求。
