美國(guó)GGB40G高頻探針(可提供無(wú)磁款)
(1) 測(cè)試頻率范圍: DC to 40 GHz
(2) 輸入衰減 ≤ 0.8db
(3) 反射損耗≧ 18 db
(4) 腳間距:25 to 2540um可選(腳間距越大 , 損耗越嚴(yán)重)
(5) 測(cè)試重復(fù)性?xún)?yōu)于-80db
(6) 單獨(dú)彈簧加載觸點(diǎn)設(shè)計(jì)
(7) 材質(zhì): BeCu , Tungsten or Nickel tips available
(8) GSG , SG , SG , GSGSG 等可選
(9) 同軸設(shè)計(jì)
美國(guó)GGB40G高頻探針(可提供無(wú)磁款)圖片
優(yōu)測(cè)國(guó)芯電子科技(深圳)有限公司是一家致力于提供半導(dǎo)體和自動(dòng)化設(shè)備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術(shù)企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售和服務(wù)于一體,不僅擁有*的生產(chǎn)設(shè)備、加工工藝及品質(zhì)檢測(cè)體系,也擁有涉及材料、物理、化學(xué)、微電子、機(jī)械等專(zhuān)業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)?,F(xiàn)在主營(yíng)的產(chǎn)品有:4寸、6寸、8寸、12寸手動(dòng)探針臺(tái)、高壓大功率探針臺(tái)、真空高低溫探針臺(tái),半自動(dòng)探針臺(tái),全自動(dòng)探針臺(tái)等,可以完成I-V/C-V測(cè)試,脈沖I-V測(cè)試,RF/mmW測(cè)試,高壓、大電流測(cè)試,MEMS、光電器件等測(cè)試。專(zhuān)業(yè)的設(shè)計(jì)人員也可以按客戶(hù)的要求量身定制,如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽(yáng)能發(fā)生器、多普勒測(cè)試儀、積分球等,在常規(guī)探針臺(tái)功能上進(jìn)行延伸拓展來(lái)滿(mǎn)足不同客戶(hù)的測(cè)試需求。