Hot Disk 模塊 HotDisk模塊-儀表網(wǎng)

公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

凱戈納斯儀器商貿(mào)（上海）有限公司由瑞典Hot Disk有限公司，英國(guó)THT有限公司共同注資成立的。公司開發(fā)、制造并銷售導(dǎo)熱系數(shù)分析儀、反應(yīng)量熱儀等世界*的*分析儀器，同時(shí)是以色列Nanonics原子力顯微鏡AFM/掃描探針電鏡SPM以及AFM＋Raman＋I(xiàn)R＋SEM/SPM一體連用測(cè)試技術(shù)。公司在范圍內(nèi)擁有眾多系統(tǒng)用戶，并在英國(guó)、美國(guó)、德國(guó)、日本等二十個(gè)國(guó)家和地區(qū)設(shè)立了分支機(jī)構(gòu)。

瑞典Hot Disk公司主要開發(fā)、制造并銷售基于瞬變平面熱源技術(shù)（TPS）的熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率和比熱容的測(cè)試儀器；英國(guó)THT公司是一家專業(yè)開發(fā)制造量熱儀和提供化工領(lǐng)域安全咨詢和產(chǎn)品檢測(cè)服務(wù)的公司。

以色列NANONICS IMAGING LTD.是業(yè)界將近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（NSOM）技術(shù)和原子力顯微鏡（AFM）相技術(shù)相結(jié)合的*，NANONICS憑借著實(shí)力和品質(zhì)，其產(chǎn)品涉足的領(lǐng)域從科研到工業(yè)，從生物學(xué)到半導(dǎo)體，從化學(xué)制品到無線電通訊，應(yīng)用范圍極其廣泛。公司新近推出了材料表征連用技術(shù)，包括Nanonics系列電鏡（AFM、SPM）與Renishaw拉曼光譜儀、Smith在線紅外技術(shù)和掃描電鏡SEM的組合一體機(jī)，具有很高的性價(jià)比和競(jìng)爭(zhēng)力。

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

HotDisk模塊

HotDisk模塊產(chǎn)品詳情

Hot Disk設(shè)備不僅可以根據(jù)探頭的選擇，還可以根據(jù)可用的測(cè)量模塊來定制測(cè)試需求。這些模塊允許測(cè)試不同幾何形狀、導(dǎo)熱范圍和材料類型的樣品。各向同性標(biāo)準(zhǔn)模塊是所有配置的核心，而可選模塊為Hot Disk配置添加更多新功能。

各項(xiàng)同性標(biāo)準(zhǔn)模塊

塊體導(dǎo)熱系數(shù)的全面測(cè)試

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

各項(xiàng)同性標(biāo)準(zhǔn)模塊

強(qiáng)大的各向同性測(cè)量模塊允許Hot Disk用戶測(cè)量任何各向同性塊體樣品的導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴(kuò)散率和比熱容，無論是固體、液體、粉末、膏體還是泡沫。用該模塊測(cè)得的導(dǎo)熱系數(shù)是樣品被檢測(cè)的體積的幾何平均值。使用各向同性模塊很簡(jiǎn)單，只需要最少的輸入?yún)?shù)。即使是一個(gè)未知材料性能的樣品也可以很快地進(jìn)行測(cè)試和分析。

各向同性測(cè)量模塊具有單面和雙面試樣測(cè)試功能。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.03-500 W/mK

TPS 1500 0.03-50 W/mK

TPS 500 S, TPS 500 0.03-100 W/mK

Hot Disk M1 0.03-40 W/mK

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

平板模塊

板材或平板樣品的二維方向?qū)嵯禂?shù)測(cè)試

TPS 2200 TPS 2500 S TPS 3500 TPS 500 (S)

平板模塊

利用平板測(cè)量模塊，可以對(duì)高導(dǎo)熱性材料的晶圓片、片或板進(jìn)行測(cè)試。在適合用這種方法檢測(cè)的樣品中，我們測(cè)量過如金屬、半導(dǎo)體和石墨。該方法在已知樣品厚度的前提下，只需要將測(cè)量時(shí)間和輸出功率作為數(shù)據(jù)輸入即可，使用起來非常簡(jiǎn)單直觀。

平板測(cè)量模塊需要兩個(gè)相同的樣品片，以準(zhǔn)確的測(cè)量。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S 1*-1500 W/mK

TPS 2200 1*-500W/mK

TPS 500 S 1*-200 W/mK

*為了達(dá)到測(cè)試精度建議測(cè)試5W/mK以上的樣品，但低至1W/mK的樣品都可得到很好的重復(fù)性。

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 500 S

各向異性模塊

方向依賴性的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500

各向異性模塊

各向異性測(cè)量模塊提供了*的能力，以測(cè)量樣品在軸向和徑向分別的導(dǎo)熱系數(shù)。能夠測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)的各向異性對(duì)許多應(yīng)用來說是非常重要的。在任何涉及加熱或冷卻的情況下，例如電池、電子產(chǎn)品和建筑材料領(lǐng)域中，能夠確定這一特性是至關(guān)重要的。這種類型的測(cè)量通過預(yù)輸入檢測(cè)樣品的比熱容即可實(shí)現(xiàn)。比熱容，如果不能在科學(xué)期刊中找到，或從以前類似材料的測(cè)試中得知，可以很容易和準(zhǔn)確地使用專用的TPS測(cè)量模塊進(jìn)行測(cè)試。

各向異性測(cè)量模塊具有單面和雙面樣品測(cè)試的特點(diǎn)，但建議使用雙面測(cè)試以達(dá)到精度。

各向同性測(cè)量模塊具有單面和雙面試樣測(cè)試功能。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S 0.005-1500 W/mK

TPS 2200 0.005-500W/mK

TPS 1500 0.005-50 W/mK

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500

薄膜模塊

測(cè)試透過薄膜的導(dǎo)熱系數(shù)

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200

薄膜模塊

薄膜模塊用于測(cè)量通過導(dǎo)電體或板式襯底上的絕熱薄膜或涂層的導(dǎo)熱系數(shù)。通過測(cè)量薄膜上的熱阻并輸入薄膜厚度即可得到導(dǎo)熱系數(shù)。薄膜的厚度可測(cè)20到500μm。

薄膜測(cè)量模塊需要兩塊相同的樣品薄膜進(jìn)行測(cè)試。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.01-5 W/mK

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200

比熱模塊

復(fù)雜樣品的直接Cp測(cè)試

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S)

比熱模塊

該專用模塊擅長(zhǎng)于確定固體或液體樣品的比熱容。與所有其他Hot Disk測(cè)試一樣，這個(gè)過程是溫和的，沒有破壞性的。被測(cè)試的樣品被放置在一個(gè)絕熱包裹的金容器中，使用設(shè)定的加熱功率小心地加熱幾度，可以實(shí)現(xiàn)非常精確的比熱計(jì)算。

比熱容測(cè)量模塊是為單試樣測(cè)試而設(shè)計(jì)的。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 1500, TPS 500 S 5 MJ/m³K

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 S

單面模塊

測(cè)試有限體積的樣品

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

單面模塊

雖然最準(zhǔn)確的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量是通過探頭夾在兩個(gè)樣品之間進(jìn)行的，但如果樣品量小，所有TPS儀器都可以進(jìn)行單面測(cè)試。這種類型的測(cè)試表現(xiàn)出與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試同樣出色的重復(fù)性，并使快速Q(mào)C測(cè)量或快速比較研究成為可能。單面測(cè)試的一個(gè)*的缺點(diǎn)是測(cè)試結(jié)果的精度略低，這是由于探頭周圍的熱流必須是不對(duì)稱的。除此之外，絕熱背景材料的使用可以準(zhǔn)確的測(cè)試高導(dǎo)熱樣品，而低導(dǎo)熱樣品(例如許多聚合物)只能得到蓄熱系數(shù)。單面測(cè)試不需要額外的設(shè)備，只需要使用任何絕熱材料來固定探頭即可。這是所有Hot Disk型號(hào)都提供的功能，并可以根據(jù)您的需求提供的絕熱背景材料。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.1-500 W/mK

TPS 1500 0.1-400 W/mK

TPS 500 S 0.1-200 W/mK

TPS 500 0.1-100 W/mK

*要達(dá)到精度，樣品至少需要1W/mK;然而，直到0.1W/mK都可以保持很好的重復(fù)性和蓄熱系數(shù)。

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

一維模塊

棒狀樣品的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 1500 TPS 500 (S)

一維測(cè)試模塊

當(dāng)測(cè)試高導(dǎo)熱材料時(shí)，如果樣品體積有限，一維方法是非常有用的。該模塊測(cè)試棒狀試樣沿軸向的導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)。這里探頭的直徑應(yīng)該與樣品的直徑相匹配，這允許測(cè)量非常小的樣品，小到直徑1.5毫米和長(zhǎng)度4毫米。

一維測(cè)量模塊具有單面和雙面試樣測(cè)試的特點(diǎn)。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S 1-1800 W/mK

TPS 1500 1-400 W/mK

TPS 500 S 1-200 W/mK

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS1500 TPS 500 S

低密度/高絕熱模塊

測(cè)試最輕且最絕熱的樣品

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500

低密度/高絕熱模塊

為了提高非常低導(dǎo)熱材料(如氣凝膠)的測(cè)試準(zhǔn)確性，這個(gè)模塊是的補(bǔ)充。這些材料的導(dǎo)熱系數(shù)如此之低，以至于通過探頭中間(在本例中是電纜)的熱損失變得非常顯著。利用該模塊可以精確地校正熱損失，使測(cè)量極低的導(dǎo)熱系數(shù)成為可能。

低密度/高絕熱測(cè)量模塊需要兩塊樣品進(jìn)行測(cè)試。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S,TPS 2200,TPS 1500 0.01-0.5 W/mK

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500

結(jié)構(gòu)探頭模塊

識(shí)別樣品內(nèi)部的趨勢(shì)及缺陷

TPS 3500 TPS 2500 S

結(jié)構(gòu)探頭模塊

*的結(jié)構(gòu)探頭測(cè)量模塊使測(cè)量導(dǎo)熱系數(shù)隨探測(cè)深度的變化成為可能。該方法可用于非均勻性物質(zhì)的均勻性檢測(cè)、缺陷檢測(cè)或分析。為了精確測(cè)量，需要預(yù)先測(cè)量試樣的平均比熱容。

結(jié)構(gòu)探頭測(cè)量模塊具有單面和雙面試樣測(cè)試功能。

導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S 0.03-500 W/mK

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S

自動(dòng)控制模塊

TCP/IP協(xié)議遠(yuǎn)程控制

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

自動(dòng)控制模塊

該模塊允許通過TPC/IP協(xié)議遠(yuǎn)程操作TPS儀器。當(dāng)使用儀器進(jìn)行在線或近線應(yīng)用時(shí)，如質(zhì)量控制，或當(dāng)操作員不能直接使用儀器時(shí)，這就是一個(gè)強(qiáng)大的工具。

適用系統(tǒng)型號(hào)：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn) 控制模塊

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
SA5系列原子熒光形態(tài)分析儀（PXTY）	面議	北京市	北京子午銳德科技有限公司	2025-01-09	在線詢價(jià)
SA7系列原子熒光形態(tài)分析儀(PXTY)	面議	北京市	北京子午銳德科技有限公司	2025-01-09	在線詢價(jià)
SA-20A型原子熒光形態(tài)分析儀(JT)	面議	北京市	北京子午銳德科技有限公司	2025-01-09	在線詢價(jià)
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SA-20D型原子熒光形態(tài)分析儀(JT)	面議	北京市	北京子午銳德科技有限公司	2025-01-08	在線詢價(jià)
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