輝光放電光譜檢測(cè)方法利用低壓,通過(guò)氬離子束對(duì)樣品表面均勻?yàn)R射物質(zhì)的非熱能處理技術(shù)。濺射出的物質(zhì)離開(kāi)樣品表面隨后被原子化并在低壓等離子放電區(qū)域被激發(fā)。
LECO GDS-900輝光放電光譜儀應(yīng)用了輝光光源激發(fā)穩(wěn)定性、可控性、譜線之間干擾少的優(yōu)點(diǎn),是一臺(tái)能夠滿足各種復(fù)雜樣品元素總量分析和表面各元素含量隨深度定量變化分析的*光譜儀。
性能特點(diǎn)
濺射和激發(fā)的分離技術(shù)
具備寬動(dòng)態(tài)范圍的線性校準(zhǔn)曲線
更少的自吸和物質(zhì)再沉淀現(xiàn)象
幾乎為排它的原子譜線激發(fā)
狹窄的特征光譜線及更少的干擾
更少的校準(zhǔn)所要求的標(biāo)準(zhǔn)樣品
少量的氬氣消耗降低分析成本
每次樣品分析間隔的陽(yáng)極自動(dòng)清掃
應(yīng)用領(lǐng)域
總量分析:鋼鐵,有色金屬,粉末金屬等。
定量逐層分析:熱鍍鋅,電鍍鋅,熱處理材料,碳氮共滲材料,各種涂層材料(PVD,CVD,表面離子噴涂,彩涂板凃)等。
射頻光源:非導(dǎo)體材料的表面金屬鍍層,導(dǎo)體材料的有機(jī)鍍層,以及各種非導(dǎo)體材料。