產(chǎn)品簡介:
4200A-SCS是一個模塊化、可定制、高度一體化的參數(shù)分析儀,可同時進(jìn)行電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和超快脈沖I-V電學(xué)測試。使用其可選的4200A-CVIV多通道開關(guān)模塊,可輕松地在I-V和C-V測量之間切換,而無需重新布線或抬起探針。4200A-SCS是性能的分析儀,可加快用于材料研究、半導(dǎo)體器件設(shè)計、工藝開發(fā)或生產(chǎn)的復(fù)雜器件的測試。
親眼見證創(chuàng)新!4200A-SCS是一種可以量身定制、全面集成的參數(shù)分析儀,可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V)和超快速脈沖式I-V特性。作為性能的參數(shù)分析儀,4200A-SCS加快了半導(dǎo)體、材料和工藝開發(fā)速度。4200A-SCS ClariusTM基于GUI的軟件提供了清楚的、不折不扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業(yè)知識和數(shù)百項(xiàng)隨時可以投入使用的應(yīng)用測試,Clarius Software可以更深入地挖掘研究過程,快速而又滿懷信心。4200A-SCS參數(shù)分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進(jìn)行靈活配置,不管是現(xiàn)在還是未來,都可以隨時對系統(tǒng)進(jìn)行升級。通過4200A-SCS參數(shù)分析儀,通往發(fā)現(xiàn)之路現(xiàn)在變得異常簡便。
功能特點(diǎn):
特點(diǎn) | 優(yōu)勢 |
將源測量單元、C-V 單元和超快脈沖 I-V 單元無縫結(jié)合的一體化系統(tǒng) | 快速、清晰和準(zhǔn)確地執(zhí)行 I-V 特性分析、交流阻抗測量、波形捕獲和瞬態(tài) I-V 測量 |
Clarius™ 基于 GUI 的軟件,支持觸摸或鼠標(biāo)控制 | 高級測試定義、參數(shù)分析、圖形繪制和自動化功能,實(shí)現(xiàn)清晰、的測量和分析 |
內(nèi)置上下文相關(guān)的測量視頻和 450 多種應(yīng)用測試 | 快速啟動測試及提供測量幫助和故障排除向?qū)?/td> |
I-V 源測量單元 (SMU) | ±210 V / 100 mA 或 ±210 V / 1 A 模塊,100 fA 測量分辨率,以及帶可選前放的 0.1 fA 測量分辨率 |
C-V 多頻率電容單元 (CVU) | 交流阻抗測量(C-V、C-f、C-t),1 kHz – 10 MHz 頻率范圍 |
I-V/C-V 多通道開關(guān)模塊 (CVIV) | 在 I-V 和 C-V 測量之間輕松切換或?qū)?nbsp;C-V 測量移至任何終端,而無需重新布線或抬起探針 |
脈沖式 I-V 超快脈沖測量單元 (PMU) | 兩個獨(dú)立或同步的高速脈沖式 I-V 源和測量通道;200 MSa/s,5 ns 采樣率;利用可選的前放將電流靈敏度擴(kuò)大到幾十皮安 |
高電壓脈沖發(fā)生器單元 (PGU) | 兩通道高速脈沖電壓源;±40 V (80 V p-p),±800 mA |
可*定制和升級 | 現(xiàn)在或以后均可根據(jù)需要隨時添加模塊 |
典型應(yīng)用:
MOSFET、BJT晶體管
材料特性分析
非易失性存儲設(shè)備
電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量
NBTI/PBTI
III-V 族器件
失效分析
納米器件
二極管和pn聯(lián)結(jié)
太陽能電池
傳感器
MEMS器件
電化學(xué)
LED和OLED
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