專為需要保持高要求清潔度標(biāo)準(zhǔn)的生產(chǎn)制造商而研發(fā)的整體解決方案 依照企業(yè)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)技術(shù)清潔度檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速采集、處理和存檔。 該系統(tǒng)方便直觀的軟件可引導(dǎo)用戶完成每一步流程,即使經(jīng)驗(yàn)不足的操作員也能夠快速、輕松地采集清潔度數(shù)據(jù)。 |
奧林巴斯CIX100技術(shù)清潔度檢測(cè)系統(tǒng):讓您的技術(shù)清潔度檢測(cè)更簡(jiǎn)便
組件與零部件的清潔對(duì)于生產(chǎn)工藝十分重要。對(duì)于開發(fā)、制造、批量生產(chǎn)以及成品質(zhì)量控制的所有流程,滿足對(duì)常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類的高標(biāo)準(zhǔn)要求是非常重要的。由于顆粒污染物對(duì)于零部件的使用壽命存在直接影響,國(guó)際和國(guó)家指令對(duì)于確定重要機(jī)械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前,使用殘留顆粒物的質(zhì)量來(lái)描述殘留物特征。當(dāng)前使用的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)諸如顆粒物數(shù)量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細(xì)的信息要求。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測(cè)系統(tǒng)專為滿足現(xiàn)代工業(yè)及國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的清潔度要求而特別設(shè)計(jì)。
清潔度檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)步驟:準(zhǔn)備和檢測(cè)
(01:提取, 02:過(guò)濾, 03:稱重, 04:檢驗(yàn), 05:復(fù)審, 06:結(jié)果)
簡(jiǎn)單,可靠
· 硬件與軟件無(wú)縫集成的耐用型高效率系統(tǒng)能夠產(chǎn)出可靠、精 確的數(shù)據(jù)。實(shí)現(xiàn)真正整體解決方案功能性的簡(jiǎn)單配置
· 通過(guò)穩(wěn)定不變的系統(tǒng)配置實(shí)現(xiàn)精 確的可重復(fù)性和尚佳安全性
· 的光學(xué)性能和可再現(xiàn)成像條件
· 通過(guò)可再定位和集成校準(zhǔn)裝置確保成熟可靠的耐久性
· 確保高性能的全系統(tǒng)集成
實(shí)現(xiàn)很高效率的直觀引導(dǎo)
使用方便的專用工作流可大大減少用戶操作并確保數(shù)據(jù)可靠性-無(wú)關(guān)操作員的經(jīng)驗(yàn)水平。 · 用戶權(quán)限管理可對(duì)功能作出限制,通過(guò)限制功能避免操作員處理失誤 · 觸摸屏支持操作員高效操作處理 · 一鍵報(bào)告功能可直接進(jìn)行數(shù)據(jù)存檔 · 通過(guò)檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)存儲(chǔ)和進(jìn)行數(shù)據(jù)分享管理 |
快速實(shí)時(shí)分析
創(chuàng) 新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統(tǒng)調(diào)節(jié)檢偏鏡式檢測(cè)系統(tǒng)的兩倍。實(shí)時(shí) 顯示顆粒物的計(jì)數(shù)和篩選過(guò)程,并且配有便于修改檢測(cè)數(shù)據(jù)的強(qiáng)大易用型工具。
· 自動(dòng)實(shí)時(shí)處理和分類2.5微米至42毫米污染物顆粒 · 通過(guò)的一體式掃描技術(shù)一次掃描完成反光和非放光物體的探測(cè)提高生產(chǎn)率 · 分析和檢測(cè)結(jié)果實(shí)時(shí)顯示,實(shí)現(xiàn)很短反應(yīng)時(shí)間 · 支持兼容國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)結(jié)果 |
高效率的數(shù)據(jù)評(píng)估
功能強(qiáng)大且使用方便的工具支持檢測(cè)數(shù)據(jù)修改。支持所有國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)確保很高靈活性。以節(jié) 省時(shí)間的方式清晰展示所有相關(guān)檢測(cè)結(jié)果。 · 各種顆粒物視圖的可視化,便于快速識(shí)別 · 顆粒物位置與縮略圖與其尺寸圖像鏈接的可靠保證 · 便于對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行重新分類、審核修改以及重新計(jì)算 · 通過(guò)整體清潔度代碼、顆粒物和分類表的實(shí)時(shí)顯示縮短反應(yīng)時(shí)間 · 通過(guò)在一個(gè)視圖內(nèi)顯示全部檢測(cè)數(shù)據(jù)集實(shí)現(xiàn)全 面控制 |
報(bào)告創(chuàng)建
一鍵報(bào)告功能可滿足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求及原則。
· 通過(guò)客戶可修改的模板實(shí)現(xiàn)的智能可變性 · 支持各種輸出格式,實(shí)現(xiàn)很高靈活性 · 通過(guò)直接文件分享選項(xiàng)功能進(jìn)行信息交流提高效率且節(jié)省時(shí)間 · 便于檢測(cè)結(jié)果長(zhǎng)期評(píng)判的豐富數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方案 |
可靠的全套系統(tǒng)解決方案:
實(shí)現(xiàn)高度可再現(xiàn)性的自動(dòng)化和精 確度
奧林巴斯CIX100系統(tǒng)是專為滿足自動(dòng)化清潔度檢測(cè)需求的整體解決方案。所有部件均已針對(duì)高生產(chǎn)率系統(tǒng)數(shù)據(jù)的精 確性、可再現(xiàn)性、可重復(fù)性以及無(wú)縫集成進(jìn)行優(yōu)化。該系統(tǒng)專為獲得的光學(xué)性能、可再現(xiàn)觀察條件以及可重復(fù)性而設(shè)計(jì)。同時(shí),該清潔度檢測(cè)系統(tǒng)還可通過(guò)自動(dòng)化關(guān)鍵任務(wù)功能大大減少人為錯(cuò)誤。
1.可再現(xiàn)成像條件(相機(jī)蓋)
通過(guò)受保護(hù)的相機(jī)對(duì)齊避免意外錯(cuò)位,實(shí)現(xiàn)尚佳可再現(xiàn)性。
2.創(chuàng) 新偏光方法(探測(cè)單元)
一次掃描即可探測(cè)反光(金屬)和非反光顆粒物。
3.經(jīng)久耐用(載物臺(tái)/載物臺(tái)插件)
精 確可再現(xiàn)的定位以及改良的對(duì)焦驅(qū)動(dòng)功能確保實(shí)現(xiàn)可再現(xiàn)的定位。載物臺(tái)插件可確保牢固的薄膜定位,并且配有用于集成校準(zhǔn)工具的額外插件。
4.優(yōu)良的光學(xué)性能(顯微鏡)
通過(guò)奧林巴斯UIS2物鏡和高分辨率相機(jī)等上等光學(xué)組件獲得分析用上乘圖像質(zhì)量。
5.使用方便(軟件)
簡(jiǎn)單易用的軟件采用直觀分步操作的工作流,引導(dǎo)用戶完成完整的檢測(cè)流程,并可很大限度降低操作員失誤。
6.高性能(工作站)
功能強(qiáng)大的工作站配有方便高效工作的觸摸屏顯示器。
可再現(xiàn)性和可重復(fù)性 | |
奧林巴斯CIX100系統(tǒng)使用方便,即使不熟練的檢測(cè)人員也能夠獲得精 確可靠的數(shù)據(jù)。 預(yù)配置的硬件和專用系統(tǒng)解決方案可幫助確保您的設(shè)置能夠正確獲得精 確、可重復(fù)的檢測(cè)結(jié)果。 | |
該圖表通過(guò)利用過(guò)程性能指數(shù)(Ppk)驗(yàn)證測(cè)量穩(wěn)定性和可重復(fù)性展示了奧林巴斯CIX100的精密性。在5X和10X倍率下測(cè)量同一樣品數(shù)次(10次)并提取按常規(guī)尺寸分類的顆粒物計(jì)數(shù)。該圖表展示了E等級(jí)(50-100µm)的Cpk和Ppk評(píng)估。 |
的光學(xué)品質(zhì) | |
| 奧林巴斯高品質(zhì)UIS2物鏡可確保獲得上等測(cè)量和分析精度的尚佳光學(xué)性能。針對(duì)清潔度檢測(cè)優(yōu)化的專用光源可保持均一一致的色溫。 |
經(jīng)過(guò)優(yōu)化的可再現(xiàn)性 | |
通過(guò)消除照明光程上的運(yùn)動(dòng)部件、很大限度實(shí)現(xiàn)功能自動(dòng)化以及創(chuàng)建避免操作員失誤的直觀工作流,可再現(xiàn)性達(dá)到尚佳。 集成式校準(zhǔn)載玻片有助于保持常規(guī)的系統(tǒng)校驗(yàn)狀況。 | |
集成式校準(zhǔn)片有助于保持常規(guī)的系統(tǒng)校驗(yàn)狀況。 | |
安全設(shè)置 | |
光路調(diào)整、電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器以及相機(jī)均配有避免發(fā)生意外修改的防護(hù)蓋。 |
清潔度檢測(cè)硬件
顯微鏡 | OLYMPUS CIX100 | 電動(dòng)對(duì)焦 |
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照明器 |
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成像設(shè)備 |
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樣品高度 |
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物鏡轉(zhuǎn)換器 | 電動(dòng)型 | 電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器 |
選配:選配MPLFLN 20X,用于高度測(cè)量。 |
軟件控制 |
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載物臺(tái) | 電動(dòng)載物臺(tái)X,Y | 電動(dòng)載物臺(tái)X,Y |
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軟件控制 |
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樣品托架 | 樣品托架 |
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顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片(PSD) |
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載物臺(tái)插件 | 2個(gè)載物臺(tái)插槽 |
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控制器 | 工作站 | 高性能預(yù)安裝式工作站 |
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擴(kuò)展插件 |
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語(yǔ)言選擇 |
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觸摸屏 | 23寸觸摸屏 |
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功耗 | 額定值 |
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功耗 |
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圖紙 | 尺寸 (長(zhǎng) x 寬 x 高) | 約1300毫米 x 800毫米 x 510毫米 | |
重量 | 44公斤 |
系統(tǒng)環(huán)境要求
常規(guī)使用 | 溫度 | 10 - 35 °C |
濕度 | 30 - 80 % | |
用于安全 | 環(huán)境 | 室內(nèi)使用 |
溫度 | 5 - 35 °C | |
濕度 |
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海拔高度 | *高2000米 | |
水平度 | *大± 2° | |
電源及電壓穩(wěn)定性 | ±10 % | |
污染等級(jí) | 2 | |
總電壓 | II |
軟件
軟件 | CIX-ASW-V1.1 | |
技術(shù)清潔度檢測(cè)的專用工作流軟件 | ||
語(yǔ)言 | GUI :英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、中文簡(jiǎn)體、以及韓語(yǔ) | |
在線幫助:英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、中文簡(jiǎn)體、以及韓語(yǔ) | ||
許可證管理 | 軟件許可證通過(guò)許可證卡激活(安裝時(shí)已經(jīng)激活) | |
用戶管理 | 系統(tǒng)可連接到網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行域管理 | |
實(shí)時(shí)圖像 | 以彩色模式顯示 | |
窗口適應(yīng)方法 | ||
實(shí)時(shí)探測(cè) - 為提高速度,顆粒物在被捕捉到時(shí)即進(jìn)行檢測(cè)。 - 如果測(cè)量結(jié)果不佳,用戶可停止該進(jìn)程。 | ||
硬件控制 | XY電動(dòng)載物臺(tái) - 操縱桿操作及軟件控制 - 所選顆粒物的自動(dòng)或手動(dòng)再定位 | |
電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器:僅可使用軟件選擇 | ||
電動(dòng)對(duì)焦 - 操縱桿控制。 - 軟件自動(dòng)對(duì)焦可用。 - 使用多點(diǎn)對(duì)焦圖進(jìn)行預(yù)測(cè)性自動(dòng)對(duì)焦。 | ||
光線控制:光強(qiáng)度由軟件進(jìn)行自動(dòng)控制 | ||
檢查系統(tǒng) | 系統(tǒng)驗(yàn)證 - 系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量PSD參數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證。 - 生成OK或NOK的質(zhì)量判定值 | |
技術(shù)清潔度標(biāo)準(zhǔn) | 可支持的標(biāo)準(zhǔn):ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E | |
全 面符合VDA19:2016推薦要求 | ||
顆粒物識(shí)別:顆粒物可通過(guò)顆粒物類型進(jìn)行分類(纖維、反光、反光纖維、或其他) | ||
定制標(biāo)準(zhǔn):用戶定義的標(biāo)準(zhǔn)可輕松確定 | ||
檢測(cè)配置:系統(tǒng)允許加載、定義、復(fù)制、重命名、刪除和保存檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) | ||
顆粒物平鋪視圖 | 以平鋪視圖顯示檢測(cè)到的顆粒物,提升導(dǎo)航效果 | |
存儲(chǔ)完整薄膜 | 完整濾膜圖片可被存儲(chǔ),并可使用不同條件進(jìn)行重新處理 | |
顆粒物編輯 | 在修改過(guò)程中可對(duì)顆粒物進(jìn)行編輯功能包括: - 刪除、合并、添加顆粒物。 - 修改顆粒物類型。 | |
動(dòng)態(tài)報(bào)告 | 使用Microsoft Word 2016模板可生成全 面可定制的專業(yè)分析報(bào)告 |
選配解決方案CIX-S-HM
高度測(cè)量 | 選定顆粒物的自動(dòng)或手動(dòng)高度測(cè)量 | - 選配軟件解決方案可對(duì)所選顆粒物從上到下進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦。顆粒物高度由此通過(guò)Z坐標(biāo)*大和*小差獲得。 - 包含一個(gè)附加物鏡(20X MPLFLN)和安裝時(shí)激活使用的許可證卡。 |
環(huán)境法規(guī)
歐洲 | 低壓指令 2014/35/EU |
EMC指令 2014/30/EU | |
RoHS指令 2011/65/EU | |
REACH法規(guī),編號(hào)1907/2006 | |
包裝及包裝廢棄物指令94/62/EC | |
WEEE指令 2012/19/EU | |
機(jī)械指令2006/42/EC | |
美國(guó) | UL 61010-1:2010第3版 |
FCC 47 CFR第15部分 B子部分 | |
加拿大 | CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12) |
澳大利亞 | 1992無(wú)線電通信法案,1997電信法案 |
節(jié)能條例 AS/NZS 4665-2005 | |
日本 | 電氣設(shè)備及材料安全法 (PSE) |
韓國(guó) | 電氣設(shè)備安全控制法案 |
節(jié)能標(biāo)簽及標(biāo)準(zhǔn)條例 | |
EMC和無(wú)線電通信條例(公告2913-5) | |
中國(guó) | 中國(guó)RoHS |
中國(guó)PL法 | |
手冊(cè)條例 |