| 產品介紹
低氣壓快速溫變試驗箱264L
AP-264
- 突出特點：
高溫試驗、低溫試驗、溫度變化試驗、低氣壓試驗、溫度高度試驗、低溫/低氣壓綜合試驗、高溫/低氣壓綜合試驗。
合作案例
技術參數(shù)
| 型號 | ATP-264A | ||||
| 性能 | 壓力范圍 | 常壓~50kPa (對應海拔高度約5000米） | |||
| 壓力偏差 | ≦±2.0kPa | ||||
| 降壓時間 | 常壓～50kPa≦20min（常溫,內箱干燥時） | ||||
| 溫度范圍 | 0℃～+85℃ | ||||
| 溫度波動度 | ≦±0.5℃（常壓時） | ||||
| 溫度均勻度 | ≦±2.0℃（常壓時） | ||||
| 溫度偏差 | ≦±2.0℃（常壓時） | ||||
| 升溫速率 | 由 +5℃ 升到 +85℃，全程平均2℃/min.空載，常壓時 。 | ||||
| 降溫速率 | 由 +85℃ 升到 +5℃，全程平均1℃/min.空載，常壓時 。 | ||||
| 標稱內容積 | 264L | ||||
| 內箱尺寸(寬x深x高)mm | 600x550x800 | ||||
| 外箱尺寸(寬x深x高)mm | 1410x1450x1890 | ||||
| 結構 | 內箱 | 內壁SUS304#霧面不銹鋼板 | |||
| 外箱 | 外壁優(yōu)質碳素鋼板,表面作靜電彩色噴塑處理 | ||||
| 密封條 | 進口硅膠密封條 | ||||
| 置物架 | 不銹鋼置物架2層，承重30kg/層。 | ||||
| 箱門 | 單開門，附視窗及照明（W210*H270mm） | ||||
| 系統(tǒng) | 加熱器 | 優(yōu)質鎳鉻合金絲電加熱器，無觸點控制方式(SSR) | |||
| 制冷機 | 谷輪全密式壓縮機 | ||||
| 真空泵 | 飛越VSV-20（含油霧過濾器） | ||||
| 手動充氣閥 | 手動充氣閥1式,用于在真空停電時手動充氣,恢復箱內壓力以便開門。 | ||||
| 壓力傳感器 | 電子式壓力傳感器 測量范圍:0?200KPa 綜合精度:±0.2﹪FS.BSL 輸出:4?20mA 壓力界面:G1/4內螺紋 | ||||
| 控制器 | 顯示屏 | 7吋顯示器TFT彩色LCD控制器 | |||
| 運行方式 | 程序運行、定值運行 | ||||
| 設定方式 | 中英文菜單、觸摸屏方式輸入 | ||||
| 程序容量 | 20個,1000步,20個循環(huán) (每個循環(huán)步數(shù)99次)。 | ||||
| 畫面顯示功能 | 壓力設定(SV)/實際(PV)/高度值直接顯示； 可顯示執(zhí)行程序號碼,段次,剩余時間及循環(huán)次數(shù),運轉時間顯示； 程序編輯以及圖形曲線顯示； 定點或程序動作狀態(tài)顯示。 | ||||
| 顯示分辨率 | 壓力:0.1KPa；高度；1 m；溫度:0.01℃；時間:1min。 | ||||
| 曲線記錄功能 | 具有帶電池保護的RAM,可保存設備的設定值、采樣值及采樣時刻的時間；記錄時間為60天(當采樣周期為1.5min時)。 | ||||
| 具USB功能 | 可插1G-8G 盤下載歷史曲線，歷史數(shù)據(jù)，可插拔。 | ||||
| 附屬功能 | 故障報警及原因、處理提示功能、斷電保護功能、定時功能(自動啟動及自動停止運行)、自診斷功能。 | ||||
| 使用環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度: +5℃ ~ +35℃； 環(huán)境濕度: ≤85％RH（無結霜）； 大氣壓值: 86kPa ~ 106kPa。 | ||||
| 電源要求 | AC 380（1±10%）V （50±0.5）Hz 三相四線+保護地線 | ||||
| ▲支持定制化需求 | |||||
注：以上技術參數(shù)為室溫+20℃或循環(huán)水溫+25℃、空載（無試樣）時下所測得。
試驗標準及方法
1）GB/T 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗箱技術條件；
2）GB/T 10589-2008 低溫濕熱箱技術條件；
3）GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件；
4）GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 （IEC 60068-2-1:2007, IDT）；
5）GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 （IEC 60068-2-2:2007, IDT）；
6）GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓 （IEC 60068-2-13:1983, IDT）；
7）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 （IEC 60068-2-14:2009, IDT）；
8）GB/T 2423.25-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗 （IEC 68-2-40:1976, IDT）；
9）GB/T 2423.26-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗 （IEC 68-2-41:1976, IDT）；
10）GJB 150.2A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第2部分：低氣壓(高度)試驗；
11）GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗；
12）GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗；
13）GJB 150.6A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第6部分：溫度高度試驗。
