SP-01,Scratch Pin Probe 亂寫探針-儀表網

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　　我們服務國內外企業(yè)：
　　
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　　艾默生（中國）研發(fā)中心
　　
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　　中國天然氣研究院
　　
　　中國石油研究院大連分院
　　
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SP-01,Scratch Pin Probe 亂寫探針,基于IEC標準,適用表面絕緣層的磨擦試驗,品牌:美國.ED&D

SP-01,Scratch Pin Probe 亂寫探針產品詳情

OTHER SAFETY PRODUCTS 其它安全測試

SP-01,Scratch Pin Probe 亂寫探針
	Used to test resistance to abrasion on insulating materials and conformal coatings. Hardened steel pin, the end is a cone having a top angle of 40 degrees, tip is rounded with a radius of 0.25 ± 0.02 mm. Complies with many Standards, including IEC based Standards. Entire scratch test apparatus available.

美國.ED&D產品服務于:IBM ，美國航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗室提供檢測產品.

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