電路板故障檢測儀系統(tǒng)概述：
可提供全品種的專業(yè)級電路板測試、電路板檢測的多功能電路板故障診斷系統(tǒng)。由硬件測試平臺、可編程軟件測試平臺、測試夾具（含夾具、治具）組成。硬件測試平臺由測試單元組成，可根據(jù)測試要求擴(kuò)充測試單元進(jìn)而擴(kuò)充系統(tǒng)的測試功能和測試通道。軟件測試平臺可以通過代碼和非代碼編程方式完成測試程序編程，實現(xiàn)測試過程的所有數(shù)據(jù)和步驟的存檔保留，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測試程序，實現(xiàn)系統(tǒng)軟件自動化測試，提高排查故障的準(zhǔn)確率和系統(tǒng)的測試效率。
一、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)構(gòu)成：
系統(tǒng)構(gòu)成概述：
1.系統(tǒng)硬件測試平臺：（各個測試單元可根據(jù)測試需要擴(kuò)充測試模塊以達(dá)到需要的測試通道）
1)多電源數(shù)字集成電路測試單元（數(shù)字電路測試單元）：可擴(kuò)充：2048路測試通道；
2)模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）；
3)多功能儀表單元（八合一儀表單元）；
4)三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試單元（動態(tài)阻抗測試單元）可擴(kuò)充：2048路測試通道；
5)可編程程控電源單元：可根據(jù)測試需要擴(kuò)充電源通道
6)硬件測試框架；
2.可編輯軟件測試平臺：
1)非代碼編程：測試流程管理，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測試程序；
2)代碼編程：自動化、半自動化電路板整板測試，實現(xiàn)電路板批量化測試、電路板生產(chǎn)檢驗測試、電路板一致性分析測試。
3.測試夾具：
1)測試夾具：日常手工測試所需要的夾具；
2)治具：電路板整板測試的專用測試工裝（定制：包括：針床、專用接口板等）
（一）BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)硬件測試平臺功能：
1.多電源數(shù)字集成電路測試單元（數(shù)字電路測試單元）：可擴(kuò)充：2048路測試通道；單元由ABI-6500模塊*2組成
1)128通道（可擴(kuò)充至2048通道）
2)數(shù)字器件功能測試，管腳電壓，管腳連接狀態(tài)，溫度拐點系數(shù)，數(shù)字V-I測試
3)高級邏輯時序發(fā)生器
4)電路板故障高級查找功能
5)短路追蹤（通斷測量）
6)未知型號器件的判別
2.模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）;單元由ABI-2500模塊*1組成
1)模擬器件V-I曲線測試，矩陣測試；
2)24路測試通道，2通道探筆測試，2通道同步脈沖輸出，3路分立器件測試通道；
3)各種器件的V-I, V-T, I-T曲線測試；
4)模擬集成電路及分立器件測試功能。
3.三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試單元（動態(tài)阻抗測試單元）可擴(kuò)充：2048路測試通道;單元由ABI-3400模塊*1組成
1)規(guī)格：64路測試通道+4路探棒測試+4組同步脈沖，可切換為32+32路測試模式；
2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲線測試；
3)矩陣測試:對所有管腳間的V-I（阻抗）曲線測試
4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點的電氣參數(shù)值(V/I)：電壓、電流具體數(shù)值；
5)設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴(kuò)充到2048路測試通道。
4.多功能儀表單元（八合一儀表單元）;單元由ABI-6350模塊*1組成
規(guī)格：集成8種常用測試儀器于一體；
1)3通道數(shù)字示波器；
2)2通道任意波形發(fā)生器；
3)2通道數(shù)字電壓表；
4)1通道數(shù)字電流表；
5)1通道數(shù)字電阻表；
6)1通道頻率計；
7)8通道通用I/O接口；
8)4路固定輸出電源。
5.可編程程控電源單元;單元由ABI-1200模塊*1組成
1)規(guī)格：三路可調(diào)輸出，可串并聯(lián)；
2)通道隔離；
3)每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax
4)具備過壓、過流保護(hù)
5)遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測補(bǔ)償功能
6.硬件測試框架：英國原產(chǎn)19英寸機(jī)架式含計算機(jī)（可以安裝六組模塊）
（二）可編程軟件測試平臺功能
中英文軟件，可通過編程軟件對所有模塊進(jìn)行操作控制
1.具有測試流程記憶功能（軟件具有強(qiáng)大的測試流程編輯和記錄功能）
2.測試流程的制定貫穿整個測試過程，使電路測試過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、 測試流程）。可以按照測試要求，保存流程測試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。保證了測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化、工藝化。
3.全面記錄各種測試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測量到的管腳電壓、連接關(guān)系、功能測試結(jié)果等 信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲記錄到測試流程中，方便隨時與其他電路板進(jìn)行對比，大大簡化了測試中需要重復(fù)對比的工作。
4.軟件在測試流程中允許用戶加入對測試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁鏈接、視頻等，極大提升了測試效率。
5.圖形化測試庫編輯器，圖形化定義輸入激勵信號及測試記錄輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速建立元器件與電路板測試庫，元器件與整板測試庫擴(kuò)充簡單、快捷. 非專業(yè)人員可以快速擴(kuò)充測試庫。
6.*測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報告。系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測試報告。測試報告可以包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果。生成用戶專有的測試報告，方便測試數(shù)據(jù)的保存。
7.*中文、英文測試操作軟件，中文軟件漢化到各級菜單（完整漢化版），提供免費終生軟件的升級服務(wù)；
8.智能化編程，通過TFL編輯器，可對測試的每個步驟進(jìn)行編程，TFL編輯器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個編程命令。
（三）測試夾具功能
1.測試夾具附件，包括：DIL等各種器件測試夾具1套（日常手工測試所需要的夾具）；
2.治具需要定制服務(wù)：電路板整板測試的專用測試工裝（包括：針床、專用接口板等）；
3.可選配件：SOIC測試夾具、離線測試盒、分立器件測試探筆套裝等。
二、BM-8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)功能特點
1.*硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計，可根據(jù)要求擴(kuò)充測試模塊和測試通道。
2.*軟件系統(tǒng)測試過程流程化設(shè)計，可以通過非編程方式實現(xiàn)測試過程流程化：保存流程測試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。以后的測試就
3.按照流程步驟進(jìn)行測試，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對比報告。測試流程的制定貫穿整個測試過程，并不斷完善測試流程。實時將測試經(jīng)驗、測試信息擴(kuò)充到測試流程工藝中。完成了流程化設(shè)計的電路板可以實現(xiàn)人工快速、半自動化故障排查及板級系統(tǒng)測試，提高排故和測試效率。
4.*測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報告。系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測試報告。測試報告包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果。生成用戶專有的測試報告，方便測試數(shù)據(jù)的保存。
5.*多電源數(shù)字電路測試模塊具備64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試（可擴(kuò)充到2048通道），每個通道可以根據(jù)需要分別獨立定義為：輸入/電壓測量、輸出/信號驅(qū)動或V/I曲線測量；可進(jìn)行自定義測試，器件與整板的自定義仿真測試。
6.*具備閾值電平臨界點掃描測試功能，確定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。
7.系統(tǒng)可對各種器件進(jìn)行端口測試： V-I、V-T、V-I-F測試.二維V-I測試低達(dá)1Hz頻率，三維測試頻率高達(dá)到10kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試。
8.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板，三維立體圖形測量測量方式，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測試。
9.*系統(tǒng)各個模塊在同一個專業(yè)平臺操控下同時運行，完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測試并生成自定義測試報告。
10.*集成8種測試儀器于一體：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、1通道頻率計、8通道通用I/O接口、4路輔助電源。8種常規(guī)測試儀器可以并發(fā)操作，所有步驟過程可以記錄存儲并可對比，所有測試數(shù)據(jù)可以量化，并可以形成測試報告，可對電路板進(jìn)行仿真測試、調(diào)試測試、一致性測試等整板測試。
11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統(tǒng)軟件來控制，三個通道可以支持串并聯(lián)以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應(yīng)器模塊可根據(jù)流程設(shè)計，自動開啟和關(guān)閉測試所需的電源。電源配合其他模塊使用，可實現(xiàn)整板測試與多電源測試的流程自動化。
12.多達(dá)上萬種的數(shù)字器件測試庫，測試器件庫涵蓋常用的器件。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴(kuò)充與自定義器件測試庫?？梢酝ㄟ^圖形化器件編輯器定義輸入激勵信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速批量建立元器件和整板測試庫。
13.系統(tǒng)含有模擬器件測試庫，可對放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測試。 可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測試等。
14.系統(tǒng)可對各種器件進(jìn)行端口測試：V-I、V-T、I-T測試。測試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.
三、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)單元模塊特點
1.多電源數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊(ABI-6500)
該模塊具有64個測量通道,可提供多種的測量功能。這些通道可提供全面性故障診斷能力，包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路管腳的連接狀態(tài)和電壓值的測量,以及在非加電情況下使用的V-I曲線測試功能，是數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊。系統(tǒng)提供的信息更全面、更準(zhǔn)確、測試條件更豐富。仿真測試輸入電壓可以根據(jù)需要-10V～+10V之間自己定義，檢測輸出的電平閾值也可以自己定義。ABI-6500模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷。
2.模擬電路測試功能模塊(ABI-2500)
在模擬集成電路測試模塊中允許對模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測試。所有常見的模擬集成電路皆可以測試，系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)進(jìn)行功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖。在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能，電路板或集成電路可在非加電的情況下，得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.。ABI-2500模塊包含標(biāo)準(zhǔn)模擬器件參數(shù)測試庫。
3.三維立體矩陣式V-I-F動態(tài)阻抗混合電路測試模塊（ABI-3400）
規(guī)格：64通道，三維立體V-I-F測試，適合檢測與頻率相關(guān)的器件特性，強(qiáng)大的矩陣式測試，測試通道可擴(kuò)展(以64通道步進(jìn)擴(kuò)展，高達(dá)2048通道)，的同步脈沖測試模式，可制定標(biāo)準(zhǔn)的測試流程及步驟。
4.八合一多功能儀表模塊(ABI-6350)
在八合一多功能儀表模塊中，提供了多種高規(guī)格的測試及測量用的儀表功能在同一模塊之中。此種設(shè)計方式適合用于教育及一般用途的電子測量使用。其模塊提供了八種常用儀表功能：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、4通道頻率計、8通道通用I/O接口、4路輔助電源.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺功能,來設(shè)計定制化的儀器操作接口。
5.系統(tǒng)專用可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(ABI-1200)
此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時所必要的電源。其具有三組可調(diào)式隔離電源輸出,三個通道支持串并聯(lián)，遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測補(bǔ)償，并同時具有過電壓及過流保護(hù)功能。
四、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)單元模塊主要技術(shù)指標(biāo)
1.多電源數(shù)字集成電路測試模塊: (6500模塊*1個)
1.1測試通道數(shù) : 64測試通道（可擴(kuò)至2048通道）
1.2具有數(shù)字V-I曲線測試功能，64路測試通道（可擴(kuò)至2048通道）
1.3總線隔離信號通道：8通道（4邏輯高+4邏輯低）
1.4可設(shè)定輸出的邏輯信號電平范圍 : -10V ～ +10VDC
1.5具自動掃描目前工作的數(shù)字邏輯電平閾值功能
1.6邏輯時序發(fā)生器：64通道（可擴(kuò)至2048通道），模式數(shù) 999個/通道
1.7 64個通道可以獨自定義為：輸入（測量）和輸出（驅(qū)動），輸出信號范圍：-10V～+10V，輸入信號范圍：+20V ～ -20VDC
2.模擬電路測試模塊：(2500模塊)
2.1 V-I測試性能
測量通道：2路探棒通道，2路同步脈沖信號通道，24路測試夾具通道，3路分立器件測試通道；
V-I曲線測試掃描電壓范圍：2～50Vp-p；
V-I曲線測試掃描頻率范圍：37.5Hz～12kHz；
V-I曲線測試阻抗范圍：100Ω～1MΩ；
V-I曲線測試信號波形：正弦波、三角波、斜波；
顯示曲線模式：V-I、V-T、I-T；
測試方式：學(xué)習(xí)對比、探棒實時對比、矩陣測試；
同步脈沖信號幅度：-10V～+10V；
同步脈沖輸出模式：正脈沖、負(fù)脈沖、雙向脈沖、DC；
2.2模擬集成電路及分離組件測試功能
測量通道數(shù)：24個獨立測試通道；
驅(qū)動輸出電壓：-12V～+12V；
驅(qū)動輸出電流：200mA；
可量測輸入電壓：±24V；
IC測試封裝型態(tài)：OP放大器、比較器、DACs、ADCs；
IC測試方式：在線測試, 若OPA工作在線性區(qū), 則可自動計算出放大率(Av)；
晶體管測試能力：晶體管、FET、TRIACS、THYRISTOR；
3.系統(tǒng)專用可調(diào)式電源供給模塊功能: (1200模塊)
電源供應(yīng)輸出控制可由軟件來手動控制開關(guān)；
3通道獨立；
每通道：0～40VDC max, 0～8A max, 40W max；
支持串并聯(lián)，以便增加電壓和電流供應(yīng)；
4.八合一多功能儀表模塊性能：(6350模塊)
4.1數(shù)字儲存示波器
測試通道：3路測試通道；
帶寬：100MHz；
采樣速率：500MS/s (25GS/s ERS 模式)；
輸入阻抗：1MΩ；
4.2函數(shù)信號產(chǎn)生器：
測試通道：2通道；
輸出波形：DC、正弦波、方波、三角波、正脈沖、負(fù)脈沖；
輸出頻率范圍：0.5Hz～25MHz；
輸出阻抗：50?；
4.3通用 I/O：
通道數(shù)：8路通用I/O通道；
信道模式：電壓輸出、電壓輸入；
提供CMOS、LVCMOS、ECL、TTL、LVTTL邏輯電平的預(yù)設(shè)值；
4.4電壓表
測量通道：2通道；
直流電壓測量范圍：0～±500V；
交流電壓測量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～500V；
顯示分辨率：4½ Digits 20,000 Count；
4.5電流表：
測量通道：1通道；
直流電流測量范圍：0～±10A；
交流電流測量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～10A；
顯示分辨率：4½ Digits 20,000 Count；
4.6電阻表：
測量通道：1通道；
測量范圍：0～10MΩ；
連續(xù)性：0Ω～ 1kΩ，分辨率：100mΩ；
二極管：測量范圍：0V～2V；分辨率：100μV；測試電流：1mA；
顯示分辨率：4½ Digits 20,000 Count；
4.7頻率計數(shù)器
測量通道：1路專用通道+3路DSO共用通道；
頻率測量范圍：專用通道：1MHz～800MHz；DSO通道：2Hz～100MHz；
輸入阻抗：專用通道：50Ω；DSO通道：1MΩ；
電壓輸入范圍：專用通道：±3.3V；DSO通道：±40mV～±8V。；
4.8輔助電源:
電壓輸出：+5V,+3.3V,+12V,-12V；
電流限制：+5V/1A；+3.3V/1A,+12V/100mA,-12V/100mA；
5.三維立體矩陣式V-I-F動態(tài)阻抗混合電路測試模塊 (3400模塊*1個)
5.1測試通道：4路探棒通道，4路同步脈沖通道，64路夾具測試通道；
5.2 V-I曲線掃描電壓范圍：2～50Vp-p（2、5、10、20、50Vp-p）；
5.3 V-I曲線掃描頻率設(shè)定范圍：1Hz～10kHz（可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定）；
5.4 V-I曲線測試阻抗范圍：100Ω～1MΩ（100、1k、10k、100k、1MΩ）；
5.5 三維 V-I-F曲線掃描頻率范圍：10Hz～10kHz（可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定）；
5.6 顯示曲線模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；
5.7 測試方式：存儲對比、探棒實時對比、矩陣測試；
5.8 同步脈沖輸出設(shè)定：單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；
5.9 同步脈沖信號幅度：-10V～+10V，調(diào)整分辨率0.01V；
五、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)主要優(yōu)勢
1.模塊化設(shè)計：可以自由擴(kuò)充，任意拆分，可以滿足不同客戶的需求。模塊化設(shè)計，可以將整機(jī)拆分、組合成小儀器使用
2.軟件具測試流程記憶功能
ABI的BM-8600采用嶄新的測試?yán)砟睿瑴y試流程的制定貫穿整個測試過程，使電路測試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、檢測流程）。
可以按照測試要求，保存流程測試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。
以后的測試就按照標(biāo)準(zhǔn)的流程按步驟進(jìn)行測試，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對比報告。
保證了測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。半熟練的工程人員只需要按部就班的依指示及圖示來操作設(shè)備，便可以完成所有的檢測工作。使測試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。
3.對電路板和集成電路可同時進(jìn)行多種并發(fā)測試操作。
包括功能測試，V-I曲線測試，溫度拐點系數(shù)測試，連接狀態(tài)測試，管腳電壓測試。并且提供全面的測試結(jié)果信息，測試效率大大提高。
1）可同一時間完成多種測試，該測試提供信息全面，節(jié)省測試時間。
2）測試項目：集成電路的功能測試、V-I曲線測量、曲線拐點溫度變化系數(shù)、各個管腳電壓值測量、管腳連接狀態(tài)測量顯示。
4.圖形化編輯元件測試庫和整板測試庫
采用圖形化編程，方便以后擴(kuò)充元件庫和電路板庫，方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫。
圖形化元件測試庫編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯，方便快捷建立起測試庫中沒有的元件庫。
整板測試非常簡單，通過圖形化的測試庫編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵信號及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能。
5.可測試拐點溫度變化系數(shù)
V-I曲線測試,可以觀測曲線拐點溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。
6.具短路電阻測量功能
短路電阻測量功能：
三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,并自動探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,檢查短路點，可判定線路阻抗及通斷情況。
7.可邏輯電平閾值自動掃描
邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值臨界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤.
1)邏輯電平閾值自定義?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件。
2)邏輯電平閾值可以自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值臨界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤。
邏輯電平閾值自動掃描：邏輯高低電平是一個范圍，該種方法是確定集成電路在板系統(tǒng)中能通過的電平具體數(shù)值，該數(shù)值能反映出集成電路驅(qū)動能力的下降問題，方便查找驅(qū)動能力下降的器件。
8.*的V-T模式可測量器件的開關(guān)時間特性（配合同步脈沖）
•可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.
•測試時將設(shè)定好的方波同步到測試信號中，可以觀測到三端器件開關(guān)時間特性的差異，圖中是高頻狀態(tài)，器件的開關(guān)時間參數(shù)出現(xiàn)問題，圖中的差異體現(xiàn)了開關(guān)時間的問題。
9.V-I曲線矩陣測試
分別以每個管腳為公共端進(jìn)行V-I測試，可針對管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測試發(fā)現(xiàn)管腳間的阻抗差異，使測量的信息更全面準(zhǔn)確。
10.具有分立器件功能測試
1）模擬集成電路測試功能：可對模擬放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應(yīng)管、場效應(yīng)晶體管場效應(yīng)晶體管場效應(yīng)晶體管光耦器件、AD/DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測試.
2）可以對模擬器件的參數(shù)指標(biāo)值進(jìn)行在線測量：放大倍率 (AV) CTR值 (電流轉(zhuǎn)換比) 、Vled (內(nèi)部光二極管的導(dǎo)通電壓值、Hfe值 (晶體的電流放大倍率)等參數(shù)值。
11.的波套設(shè)計
八合一多功能儀表6350-示波器*功能-波套
•信號波形通過對比
12.將波形保存成測試步驟（生成測試數(shù)據(jù)庫）
13.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板。
14.動態(tài)阻抗分析功能，可以對圖形進(jìn)行電壓、電流參數(shù)的測量
