概述

本質安全型Parsum IPP 70-SE可用于化學、食品及醫(yī)藥行業(yè)中的終點檢測、工藝控制/優(yōu)化以及實時質量控制。 適合在如磨碎、團聚、造粒、篩分以及噴霧干燥等設備操作中使用。

• 輕巧且便于安裝，可與新型加工設備或現(xiàn)有加工設備快速整合。
• 動態(tài)檢測范圍寬—粒度為50 - 6000µm的顆粒，高達50m/s的速率檢測。
• 對高固體負荷測量結果重復性高，即使是無規(guī)律移動的顆粒，是流化床監(jiān)測的理想產品。
• 通過綜合型、客制化軟件進行實時測量及反饋。
• 無需采樣或校準。
• 多種附件，可應用于研磨類、油脂類、粘性及附著性顆粒。
• 經ATEX 100認證。

工作原理

Parsum IPP 70-SE探頭采用成熟的空間濾波測速測量理論。 無需校準或采樣且無顆粒為球型的假設。 探頭本身可用于0、1以及2、20、21與22區(qū)，配有用于1區(qū)及21區(qū)的電子器件外殼。

空間濾波測速是一種以數(shù)字為基礎的弦長測定法，通過收集各個顆粒的數(shù)據，得出顆粒粒度分布。

穿過激光束墜落的顆粒投射出一片陰影，中斷了至線性監(jiān)測器陣列（由光纖組成）的光線流。 由空間濾波檢測器線性相鄰纖維元件的連續(xù)中斷來計算顆粒的速度。 采用第二信號—脈沖信號來確定粒度，即測量顆粒阻擋一個信號光纖的時間長度。

測量大量顆?？傻贸隽钊藵M意的可靠結果，從而根據用戶需要，導出各種粒度參數(shù)以及體積分布的參數(shù)。

Parsum IPP 70-SE可直接安裝在管線內或容器內。 雖然無需備制樣品，但可采用內部壓縮空氣來分散聚顆粒，保持樣品池與光學器件無附著的顆粒，同時可在高固體負荷及高溫下進行測量。

信息從測量區(qū)域通過光纖電纜傳遞至探頭的電子外殼，增加了儀器的穩(wěn)健性。 然后，數(shù)據可傳遞至控制室或現(xiàn)有的控制系統(tǒng)，進行工藝監(jiān)測及控制。 由于該儀器在傳感區(qū)進行集中測量，可采用適合的關聯(lián)性對流量的變化進行預測。

技術指標

顆粒粒度

測量范圍：:

50-6000µm

顆粒速度

測量范圍：:

0.01 – 50m/s

常規(guī)

測量原理：:

空間濾波測速儀

光源:

670nm

激光安全：:

1 類

運行環(huán)境

溫度:

10°C – 60°C

濕度:

35% - 80%無冷凝

外殼防護等級:

IP 65

支持

利用馬爾文帕納科服務計劃保護您的投資，確保儀器保持高性能。

當您購買了馬爾文帕納科產品，我們明白，這僅是建立工作關系的步，而這種關系將伴隨儀器的整個使用壽命。 根據您的需要，馬爾文帕納科將為您的業(yè)務提供支持。

幫助臺

• 電話及郵件支持。
• 負責接聽您電話的接線員，保證及時回答您的疑問

培訓

• 用戶培訓活動

軟件下載

• 簡便的升級與新功能更新機制

馬爾文帕納科服務選項 - 選擇適合您的計劃：

*包含人工和差旅費用***需另外收費