超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。
1、具備A（點掃描）、B（縱向掃描）、C（橫向掃描）、透射掃描（需配置透射掃描單元及接收探頭選項）、多層掃描、Tray-托盤掃描，厚度測量等系列掃描模式。
2、具備定量測分析功能，以圖像方式直觀顯示被測件內(nèi)部缺陷的位置、形狀和大小，并進行缺陷的尺寸和面積統(tǒng)計，自動計算缺陷占所測量面積的百分比；具備缺陷尺寸標識；厚度與測距等功能。
3、具備圖像著色功能，可根據(jù)相位翻轉自動著色；可根據(jù)灰度等級手動著色；可根據(jù)厚度變化，自動著色；
4、適用于單個器件的快速掃描分析，也可批量放置樣品同步進行缺陷識別，快速篩選出不合格品。
5、可兼容1~110MHz的超聲探頭。
6、檢測軟件自主研發(fā)，中英文界面，可根據(jù)客戶需求對功能進行持續(xù)升級。
產(chǎn)品參數(shù)： 序號 機電特性 規(guī)格型號 1 整機尺寸 1000mm×900mm×1400mm 2 水槽尺寸 620mm×650mm×150mm 3 有效掃描范圍 350mm×300mm×100mm 4 掃描速度 600mm/s 5 超聲探頭 可兼容1~110MHz的超聲探頭。 6 定位精度 X/Y≤±0.5μm，Z≤±5μm 7 重復定位精度 X/Y≤±0.01mm，Z≤±0.02mm 產(chǎn)品主要配置表： 序號 名稱 規(guī)格 1 掃描系統(tǒng) X軸：直線電機驅動；Y軸：伺服電機驅動；Z軸：步進電機驅動 2 水槽 620mm x 650mm x 150 mm 3 超聲發(fā)射、接收器 帶寬1-65MHz 4 高速數(shù)據(jù)采集卡 采樣頻率 500MHz 5 工控機 i5處理器、內(nèi)存8GB、硬盤1T、Win10 64位操作系統(tǒng)。 6 顯示器 兩個27"液晶顯示器 7 檢測軟件 和伍超聲無損檢測軟件
行業(yè)應用：
鋰電池、塑封IC、光電器件、微波功率器件、MEMS器件、倒裝芯片、堆疊Stacked Die、MCM多芯片模塊、金剛石復合片、電器焊接件、陶瓷材料等。
