Photon TechSystemPhts大面積紅外激光觀察卡
吸收光譜范圍：0.75~2.13um，光譜靈敏性高
激光雷達(dá)和測距儀都可以用于距離探測，其中激光雷達(dá)可作為大氣探測，它們是應(yīng)用較為廣泛的激光應(yīng)用技術(shù)。因為他們的光路區(qū)別于一般的小型光路，所以具有較為苛刻的對準(zhǔn)和校準(zhǔn)條件，且因為系統(tǒng)不同，一般的校準(zhǔn)光路只能校準(zhǔn)一種光學(xué)系統(tǒng)，不具有普遍性。
如上圖，Photon TechSystem （簡稱Phts）生產(chǎn)的EL系列發(fā)光屏能夠?qū)⒉豢梢姽怙@示出來，且這種大面積紅外調(diào)光片（大面積紅外顯示卡）的有效面積超過1平方米，可用于測距儀、大地測量儀器、激光雷達(dá)和特殊設(shè)備等大孔徑光束的激光系統(tǒng)。其特點：進行大活動區(qū)域的展示臺的對齊，且能夠在各種天氣條件下工作，吸收光譜范圍：0.75~2.13um，光譜靈敏性高，可以在很大程度上減輕客戶的調(diào)試難度。這種大面積紅外調(diào)光片又叫做大面積倍頻片，大型激光觀察卡，大面積紅外顯示卡，激光雷達(dá)紅外激光觀察卡，大面積紅外激光探測卡、紅外觀察卡等等。
如果激光雷達(dá)采用較大的接收視場來確保即使收發(fā)光軸偏離也能接收到信號的話，那么會引入較大的背景光噪聲，影響探測精度，降低探測效率，這對于要求越來越高的光學(xué)應(yīng)用來講，是不可接受的。所以激光雷達(dá)一般會設(shè)計非常小的發(fā)散角的激光發(fā)射和非常窄的視場接收角，來保證探測精度，但較大提高了對準(zhǔn)精度。
但雷達(dá)發(fā)出的光線是不可見光，不能被人眼所觀察，所以只能借助光學(xué)系統(tǒng)進行校準(zhǔn)。為了提高對準(zhǔn)精度，研究人員設(shè)計了自動對準(zhǔn)裝置，目前的自動對準(zhǔn)裝置通常在接收光學(xué)系統(tǒng)的后端設(shè)置ccd或cmos等面陣成像器件，用分光或者切換光路的方法，使回波光或共光路指示光成像在上述面陣器件上，對比面陣器件上的光斑像與接收視場的校準(zhǔn)關(guān)系來衡量失配量，以此來微調(diào)激光發(fā)射軸或接收視場光軸完成收發(fā)匹配。但該系統(tǒng)會損失部分接收光，且系統(tǒng)較為復(fù)雜。但如果你換了個其他大型雷達(dá)光路，就需要設(shè)計不同的校準(zhǔn)光路，不具有兼容性。
一般雷達(dá)系統(tǒng)的校準(zhǔn)設(shè)備會受到天氣的影響較大。在大霧或暴雨等惡劣天氣時光路與天氣良好時不一致，會誤導(dǎo)調(diào)試人員；受環(huán)境影響和熱脹冷縮的作用，光束會在一定范圍內(nèi)波動。這些都是無法輕易獲得的信息，會給用戶帶來不便和困擾。 所以Photon TechSystem 生產(chǎn)的EL系列發(fā)光屏能夠?qū)⒉豢梢姽怙@示出來
Photon TechSystem大面積紅外激光探測卡規(guī)格：
| 型號 | Luminescent Screens EL1 | Luminescent Screens EL2 | Luminescent Screens EL4 |
| 聚合物類型 | IR1 | IR2 | IR4 |
| 屏幕區(qū)域面積（m2） | >1 | ||
| 吸收光譜范圍（um） | 0.75~1.5 | 0.75~2.13+ | 0.78~1.07、1.45~1.64 |
| 損傷閾值 | >700 mW/cm2 | ||
| 光譜靈敏性（uW/cm2） | <6 (@808nm)、 | <20 (@808nm) | <2 (@808nm) |
| 發(fā)射顏色 | 紅橙色 | 紅色 | 綠色 |
| 發(fā)射需要充電 | 是 | 是 | 否 |
Photon TechSystem激光雷達(dá)紅外激光觀察卡特點和優(yōu)點
- 高防潮性和高機械特性；
- 屏幕能夠在各種天氣條件下在現(xiàn)場工作；
- 工作溫度范圍很廣，從 -40 oC 到 +50 oC 以上；
- 高光譜靈敏度；
- 可提供定制尺寸。
大面積紅外激光探測卡應(yīng)用：
-激光雷達(dá)
-測距儀
-大地測量儀
