X射線分辨率測試卡是測量成像系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要工具，我司可提供各種類型的測試卡以滿足您的各種需求。圖案類型包括線對、孔陣列和西門子星等。最小圖案尺寸低至20nm，面對高能的高分辨X射線應用，我們可以提供厚達3微米的金吸收體，以滿足高能高分辨成像系統(tǒng)的測試需求。
同時我們還可以提供用：
于納米CT體素校準的模體- Voxel-spirit 可實現(xiàn)快速和直觀的體素大小校準，Voxel-spirit 甚至可以滿足嚴格的視場 (FOV) 限制和高精度要求 。
遵從ASTM E1695-95的Resolution-spirit 通用模體組，適用于納米CT和微米CT的空間分辨精密評估。它適用于可變市場限制及高精度的需求。
帶有用于 nanoCT 和 microCT 測量的基準標記的樣品架-R1-Shadow，可以快速直觀地校正旋轉(zhuǎn)臺的不準確性和 CT 數(shù)據(jù)配準，適用于雙能量 CT 或 4D CT 等應用。 R1-Shadow 是一種多用途解決方案，適合可變視場 (FOV) 限制和高精度要求。
| 類型 | 圖案布局 | 圖案規(guī)格 | 吸收體類型及厚度 |
| 納米分辨率測卡XRESRO-20 |  | ①Radial Pattern ③④Hole Pattern⑤⑥⑦⑧L&S Pattern 100nm hole 50nm L&S 20nm Radial patterns | Ta 1µm |
| 納米分辨率測卡XRESRO-50HC |  | 100nm hole 50nm L&S 50nm Radial patterns | Ta 500nm |
| 納米分辨率測卡XRESRO-100 |  | 100nm L&S 200nm L&S 400nm L&S 600nm L&S 800nm L&S 100nm Radial patterns | Ta 100nm |
3D西門子星分辨測試卡 |  | 最小細節(jié)小于200nm | 結(jié)構(gòu)高度200µm 尺寸Fhi 100µm |
| 顯微CT分辨測試卡 |  | 布局由嵌套的L形組成，線寬為: 50 –40 –30 –20 –15 –10 –9 –8 –7 -6 -5 –4 –3 -2 –1.5 -1 –0.9 -0.8 -0.7 –0.6 -0.5 –0.4 –0.35 –0.3 –0.25 –0.2 （微米） | 約1.5µm米厚金 |
Yxlon標準分辨率測試卡 |  | 5.0, 4.0, 3.2, 2.5, 2.0, 1.6, 1.3, 1.0, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.45, 0.4, 0.35, 0.3 µm線對 | 3 µm高金 |
NanoXSpot分辨率測試卡 |  | 4象限區(qū)域，每個區(qū)域4 mm x 4 mm，含兩個改良的西門子星，孔陣列（最小孔徑5微米），7組有不同方向的線對（12 µm, 10 µm, 8 µm, 6 µm, 5 µm, 4 µm, and 3 µm） | 8 µm高金 |
微納CT分辨率測試模體 Spirit resolution |
| 球直徑: 0.5, 1.0, 2.5, 5.0mm < 1 μm to > 10 μm 體素尺寸CT應用 遵從 ASTM E1695-95 標準 | 紅寶石 |
納米CT體素校準模體 Voxel-Spirit |
| 球直徑: 0.3 mm 球距離: 0.45 mm (認證精度: 0.06 μm) <1 μm 體素CT應用 | 紅寶石 |
| 微納CT轉(zhuǎn)臺擺動校正樣品架 |
| 基準尺寸 [µm]: 25 25 50 100 適用于 Dual-Energy CT or 4D CT | 紅寶石 |
X射線成像系統(tǒng)分辨率測試
X射線CT體素校正
X射線CT分辨率評估
