日本電子JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強(qiáng)的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的大優(yōu)點(diǎn)。
三維觀察和原位觀察實(shí)驗(yàn)
由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強(qiáng)的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的大優(yōu)點(diǎn)。
一般的透射電子顯微鏡樣品由于極薄，失去了塊狀材料的性質(zhì)，有效利用超高壓透射電子顯微鏡能觀察厚樣品的特長(zhǎng)，能保持塊狀樣品原來(lái)的性質(zhì)進(jìn)行觀察，特別是充分利用增大物鏡極靴之間的間隙所獲得的空間，使氣體氛圍下的原位觀察和樣品大角度傾斜的三維觀察在小型試驗(yàn)室的顯微鏡內(nèi)得到了實(shí)現(xiàn)。
STEM圖像對(duì)于厚樣品的三維觀察非常有效，特別是對(duì)微米級(jí)厚樣品的三維觀察能發(fā)揮威力。具有這些功能的JEM-ARM1000在新材料的開(kāi)發(fā)和生物醫(yī)學(xué)研究中是的裝置之一。
JEM-ARM1000被世界各國(guó)的研究所、大學(xué)等機(jī)構(gòu)用于生物醫(yī)學(xué)、材料開(kāi)發(fā)等科學(xué)的研究。
典型規(guī)格*1
| [分辨率] | |
| STEM | 2.0 nm (1000 kV) |
| TEM (晶格, 點(diǎn)) | 0.16 nm (點(diǎn), 1000 kV) |
| 0.10 nm (晶格, 1000 kV) | |
| [放大倍率] | |
| STEM | x 20,000 ～ x 2,000,000 |
| TEM | x 200 ～ x 1,200,000 |
| [電子源] | |
| 電子源 | LaB6 |
| 加速電壓*2 | 800, 1000 kV |
| [穩(wěn)定度] | |
| 加速電壓 | ≦8 x 10-7/min |
| 物鏡電流 | ≦5 x 10-7/min |
| [樣品系統(tǒng)] | |
| 樣品臺(tái) (測(cè)角儀) | 全對(duì)中樣品臺(tái) |
| 樣品尺寸 | 3 mmφ |
| 傾斜角 | *3 |
| 行程范圍 (mm) | X, Y: ±1 Z:±0.5 |
