JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀-儀表網(wǎng)

公司介紹主營產(chǎn)品

廣州文明機(jī)電有限公司,簡稱GZ CVL（GZ Civil Mechatronic)成立于2006年，是業(yè)內(nèi)的企業(yè)，由留學(xué)歸國的北京大學(xué)博士后和華南師范大學(xué)MBA班學(xué)生共同創(chuàng)辦，擁有數(shù)十項(xiàng)，為廣東省科技型中小企業(yè)，屬國家與專精特新培育企業(yè)。十幾年來，我們一直專注的領(lǐng)域包括科學(xué)儀器、汽車測試儀器、非標(biāo)自動(dòng)化設(shè)備、測試測量與控制、嵌入式開發(fā)工具和軟件工程。“GZ CVL”始終堅(jiān)持品牌化經(jīng)營戰(zhàn)略，以服務(wù)為基礎(chǔ)，以質(zhì)量求生存，以管理求發(fā)展，秉承一切以客戶為中心的服務(wù)理念。憑借多年來客戶的信任和支持，“GZ CVL”積累了豐富的營銷及安裝經(jīng)驗(yàn)，是一家擁有的管理，*的技術(shù)、高水平的營銷和完善的售后服務(wù)為一體化的專業(yè)化測試及分析儀器設(shè)備公司。

工業(yè)推動(dòng)中國，創(chuàng)新感動(dòng)世界，GZ CVL以“創(chuàng)品牌、建百年企業(yè)”為奮斗目標(biāo)，積極促進(jìn)“中國制造”向“中國創(chuàng)造”的轉(zhuǎn)變。公司以“科技開創(chuàng)未來”為宗旨，以專業(yè)技術(shù)為核心，以優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品為先導(dǎo)，為我國測試及分析技術(shù)發(fā)展做貢獻(xiàn)，努力實(shí)現(xiàn)中國工業(yè)騰飛。

廣州文明依靠國內(nèi)外測試和分析儀器設(shè)備領(lǐng)域多家國際化大公司以及中山大學(xué)、華南理工大學(xué)的雄厚技術(shù)實(shí)力，代理專業(yè)測試分析儀器設(shè)備，開展相關(guān)技術(shù)培訓(xùn)，自主研發(fā)配套軟硬件，并提供有效的系統(tǒng)解決方案。公司具有持續(xù)的自主創(chuàng)新能力和科研成果轉(zhuǎn)讓或者產(chǎn)業(yè)化的實(shí)力，核心產(chǎn)品包含：新能源汽車測試臺(tái)架，空燃比分析儀，尾氣分析儀，掃描電鏡，熱分析儀，光譜分析儀，質(zhì)譜分析儀等。

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	進(jìn)口	加工定制	否

JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了高的贊譽(yù)。新研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統(tǒng)有了很大的改進(jìn)，新的軟件能提供更高的通量，并保持著高的穩(wěn)定性，能實(shí)現(xiàn)更廣泛的EPMA應(yīng)用。

JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀產(chǎn)品詳情

JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了的贊譽(yù)。新研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統(tǒng)有了很大的改進(jìn)，新的軟件能提供更高的通量，并保持著高的穩(wěn)定性，能實(shí)現(xiàn)更廣泛的EPMA應(yīng)用。

肖特基場發(fā)射電子探針Plus
JXA-8530F Plus采用浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍,優(yōu)化了角電流密度，能利用2 μA以上的大探針電流進(jìn)行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。
高級軟件
新開發(fā)了多種基于Windows操作系統(tǒng)的軟件，其中包括：能使痕量元素分析更加簡便的“痕量元素分析程序”、能自動(dòng)制作相圖的“相圖制作器”以及只需簡單輸入就能對表面凹凸不平樣品進(jìn)行測試的“不平坦樣品的分析程序”等。
備注：Windows7® 為美國微軟公司在美國及其它國家的注冊商標(biāo)或商標(biāo)。
靈活的WDS配置
X射線波譜儀可以選擇140 R或100 R羅蘭圓，羅蘭圓半徑為140 mm的XCE/L型X射線譜儀檢測范圍寬，波長分辨率高和P/ B比優(yōu)異，100 mm的H型X射線譜儀具有X射線衍射強(qiáng)度高的特點(diǎn)，可以根據(jù)需要選擇使用。
WDS/EDS組合系統(tǒng)
JXA-8530FPlus標(biāo)配了JEOL制造的30平方毫米 SD檢測器（以下簡稱SD檢測器），憑借高計(jì)數(shù)率的SD檢測器，在與WDS相同的分析條件下可以進(jìn)行EDS分析，通過簡單的操作就能采集EDS譜圖。
多功能樣品室
樣品室的可擴(kuò)展性強(qiáng)，配備了樣品交換室，可以安裝各種附件。可以安裝的附件

• 電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）
• 陰極熒光檢測系統(tǒng)
• 軟X射線分析譜儀
• 不暴露在大氣環(huán)境下的轉(zhuǎn)移艙
• 高蝕刻速率的離子源

強(qiáng)力、清潔的真空系統(tǒng)
高強(qiáng)力真空系統(tǒng)包括兩臺(tái)磁懸浮渦輪分子泵，鏡筒內(nèi)還采用兩個(gè)中間室，通過差動(dòng)抽氣保持電子槍室的高真空。
軟X射線分析譜儀 (SXES)
SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)　軟X射線分析譜儀
日本東北大學(xué)多元物質(zhì)科學(xué)研究所（寺內(nèi)正己教授）和日本電子株式會(huì)社共同開發(fā)的的高分辨率軟X射線分析譜儀。新開發(fā)的變柵距衍射光柵(VLS）和高靈敏度的CCD相機(jī)組合，同時(shí)檢測Li-K系譜線和B-K系譜線，該譜儀實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率，因而能進(jìn)行化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析等。
miXcroscopy （關(guān)聯(lián)顯微鏡)
miXcroscopy 光學(xué)顯微鏡/掃描電子顯微鏡關(guān)聯(lián)系統(tǒng)
能批量登錄光學(xué)顯微鏡的坐標(biāo)數(shù)據(jù)作為EPMA的分析點(diǎn)，該系統(tǒng)適合于需要用光學(xué)顯微鏡決定分析位置的樣品。

關(guān)鍵詞：電子探針波譜儀顯微鏡光學(xué)顯微鏡電子顯微鏡

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
出租租賃數(shù)字式四探針測試計(jì)-電子探針	面議	北京市	北京北信創(chuàng)展自動(dòng)化技術(shù)有限公司	2017-04-17	在線詢價(jià)
電子探針EPMA-8050G	面議	廣州市	廣州思博科技設(shè)備有限公司	2023-08-28	在線詢價(jià)
電子探針EPMA-1720 Series	面議	廣州市	廣州思博科技設(shè)備有限公司	2023-08-28	在線詢價(jià)
電子探針 EPMA-1720 Series	面議	北京市	北京儀聯(lián)四海科技有限公司	2023-08-07	在線詢價(jià)
電子探針臺(tái)	面議	上海	牛津儀器科技（上海）有限公司	2023-07-01	在線詢價(jià)
JXA-8230 電子探針顯微分析儀	面議		上海禹重實(shí)業(yè)有限公司	2022-05-10	在線詢價(jià)

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