CH-8|8"~12" 綜合性分析探針臺(tái)測試系統(tǒng)
◆ 可用于12英寸以內(nèi)樣品測試 可選附件:加熱臺(tái) 顯示器 轉(zhuǎn)接頭 射頻測試配件 屏蔽箱 光學(xué)平臺(tái) 鍍金卡盤 光電測試配件 高壓測試配件 顯微鏡快速傾仰裝置 激光系統(tǒng) 探針卡夾具 規(guī)格及設(shè)計(jì)如有更改,恕不另行通知。
◆ 同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng)
◆ 大手柄驅(qū)動(dòng),操作舒適,無回程差設(shè)計(jì)
◆ 針座平臺(tái)快速、微調(diào)升降功能
◆ 可搭配多種類型顯微鏡
◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
◆ 結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì),可無縫升級(jí)
◆ 探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制。