終身服務(wù) 1762-IQ8 變頻器
對于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號方案的不同的影響,是錯綜復雜的。就目前的在線測試技術(shù),要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以,這項功能測試的結(jié)果,僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測試議,在對于電路板上的各類芯片進行功能測試后,均會給出“測試通過”或“測試不通過”。那么它為什么不給出被測器件是否有問題呢?這就是這類測試儀的缺撼。因為在線測試時,所受影響(干擾)的因素太多。要求在測試前采取不少的措施(如斷開晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測試結(jié)果有時不盡人意。
6. 了解在線測試儀的讀者,均知道有這么一句行話。“在線測試時不通過的芯片不一定是損壞的;測試通過的芯片一定是沒有損壞的?!彼慕忉尀椋缙骷茉诰€影響或抗干擾時,結(jié)果可能不通過,對此不難理解。那么,是否損壞的芯片在進行測試時,均會得出“不通過”呢?回答確實不能肯定。筆者與同行均遇到過,明明芯片已損壞了(確切地說換上這個芯片板子就不工作了),但測試結(jié)果是通過的。解釋為這是測試儀自身工作原理(后驅(qū)動技術(shù))所致。故此我們不能過分依賴在線測試儀(盡管各廠家宣傳的很玄)的作用,否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
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1762-IR4 | 1766-L32AWA | 1769-HSC |
1762-IT4 | 1766-L32AWAA | 1769-IA16 |
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1762-L24AWAR | 1766-L32BWAA | 1769-IF16C |
1762-L24BWA | 1766-L32BXB | 1769-IF16V |
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1762-L40AWA | 1768-CNBR | 1769-IG16 |
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CACR-SR02AD1ER | KJ4002X1-BF1 |
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CACR-SR02AY1SR | KJ4003X1-BA1 |
CACR-SR03AA2AH | KJ4003X1-BB1 |
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CACR-SR03AB2ER | KJ4003X1-BD1 |
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CACR-SR03AC1FU | KJ4003X1-BF1 |
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CACR-SR03BB1AM | KJ4010X1-BF1 |
CACR-SR03BB1BF | KJ4010X1-BG1 |
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羅克韋爾和READY Robotics合作將ForgeOS與羅克韋爾的Logix控制器系列以及設(shè)計和仿真軟件相集成。該組合將簡化機器人集成并加快工業(yè)自動化部署的上市時間。羅克韋爾的投資將促進ForgeOS平臺的持續(xù)發(fā)展,支持其與Logix的集成,并加速系統(tǒng)集成商、技術(shù)和渠道合作伙伴在羅克韋爾生態(tài)系統(tǒng)中的采用