JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F 實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。
產品規(guī)格：
| 分辨率 | 300 kV，80 kV |
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| 物鏡種類※1 | UHR極靴 | HR極靴 |
| STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器 | 0.058nm | 0.063nm |
| TEM分辨率（300 kV） | 線分辨率0.05nm | 線分辨率0.06nm |
| 使用TEM校正器 | 非線性信息分辨極限0.06nm | 非線性信息分辨極限0.07nm |
| 線性信息分辨極限0.09nm | 線性信息分辨極限0.12nm |
產品特點：
· 實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
· JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。
· STEM-HAADF像的保證分辨率達到了的58pm
· 采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達58pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時）。
· ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器 ※選配件
· ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發(fā)的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。
· 強大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300
· 標配了全新設計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
· 兩種物鏡極靴
· 為了支持用戶廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。
· 豐富的選購件
· 能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
· 大范圍的加速電壓設置
· 標配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。
· 新開發(fā)的真空系統(tǒng)
· 新的排氣系統(tǒng)達到了的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，限度地減輕了對樣品的污染和損傷。
· 高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺
· 整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術基礎之上，把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗力提高到新高度。
