晶體管泛指一切以半導體材料為基礎的單一元件,是一種半導體器件,放大器或電控開關常用;包括各種半導體材料制成的二極管、三極管、場效應管、晶閘管(后三者均為三端子)等。晶體管具有檢波、整流、放大、開關、穩(wěn)壓、信號調制等多種功能,晶體管可用于各種各樣的數字和模擬功能;晶體管是規(guī)范操作電腦、手機、所有其他現代電子電路的基本構建塊。
晶體管特性參數測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應;通常晶體管特性參數測試需要幾臺儀器完成,如數字表、電壓源、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復雜又耗時,還占用過多測試臺的空間。而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的不確定度及更慢的總線傳輸速度等缺點。
實施特性參數分析的最佳工具之一是數字源表(SMU)。普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、帥先國產化的源表系列產品,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體。可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載。其高性能架構還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數字源表(SMU)可為高??蒲泄ぷ髡摺⑵骷y試工程師及功率模塊設計工程師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導體參數分析儀或示波器是否熟悉,都能簡單而迅速地得到精確的結果。
數字源表IV掃描測試晶體管電性能,普賽斯以自主研發(fā)為導向,深耕半導體測試領域,在I-V測試上積累了豐富的經驗,先后推出了直流源表,脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、大功率激光器老化測試系統(tǒng)等測試設備,廣泛應用于高校研究所、實驗室,新能源,光伏,風電,軌交,變頻器等場景。普賽斯全新升級S系列數字源表更大直流,更高精度,科研實驗B備源表,標準的SCPI指令集,上位機軟件功能豐富,半導體測試領域的經典產品!
普賽斯源表輕松實現二極管特性參數分析
二極管是一種使用半導體材料制作而成的單向導 電性元器件,產品結構一般為單個PN結結構,只允許電流從單一方向流過。發(fā)展至今,已陸續(xù)發(fā)展出整流二 極管、肖特基二極管、快恢復二極管、PIN二極管、光電 二極管等,具有安全可靠等特性,廣泛應用于整流、穩(wěn)壓、保護等電路中,是電子工程上用途廣泛的電子元器件之一。IV特性是表征半導體二極管PN結制備性能的主要參數之一,二極管IV特性主要指正向特性和反向特性等;
普賽斯S系列、P系列源表簡化場效應MOS管I-V特性分析
MOSFET(金屬—氧化物半導體場效應晶體管)是一種利用電場效應來控制其電流大小的常見半導體器件,可以廣泛應用在模擬電路和數字電路當中,MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳納米管等材料制作,是材料及器件研究的熱點。主要參數有輸入/輸出特性曲線、閾值電壓 VGS(th)、漏電流IGSSIDSS,擊穿電壓VDSS、低頻互導gm、輸出電阻RDS等。
普賽斯數字源表快速、準確進行三極管BJT特性分析
三極管是半導體基本元器件之一,具有電流放大作用,是電子電路的核心元件。三極管是在一塊半導體基片上制作兩個相距很近的PN結,兩個PN結把整塊 半導體分成三部分,中間部分是基區(qū),兩側部分是發(fā)射區(qū)和集電區(qū)。設計電路中常常會關注的參數有電流放大系數β、極間反向電流ICBO、ICEO、集電極最大允許電流ICM、反向擊穿電壓VEBO、VCBO、VCEO以及三極管的輸入輸出特性曲線等參數。
普賽斯五合一高精度數字源表(SMU)在半導體IV特性測試方面擁有豐富的行業(yè)經驗,為晶體管電性能參數測試提供全面的解決方案,包括二極管、MOS管、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等。此外,普賽斯儀表還提供適當的電纜輔件和測試夾具,實現安全、精確和可靠的測試。欲了解更多數字源表IV掃描測試晶體管電性能的信息,歡迎隨時咨詢普賽斯儀表!