• 廣泛的測(cè)試解決方案,包括測(cè)試源表、線纜、夾具、探針臺(tái)、軟件及應(yīng)用案例;
• 電壓測(cè)試范圍從uV至10kV,電流測(cè)試范圍從fA至100A,可根據(jù)測(cè)試要求進(jìn)行靈活選擇;
• 大功率交流信號(hào)測(cè)試模塊,可實(shí)現(xiàn)大電壓的C-V測(cè)試;
• 系統(tǒng)選用的波形記錄器及參數(shù)分析儀均沿襲了吉時(shí)利產(chǎn)品的高品質(zhì)特性,為用戶提供高精度的測(cè)試數(shù)據(jù);
• 該系統(tǒng)可同時(shí)兼顧封裝組件和片上晶圓的測(cè)試,既節(jié)省了測(cè)試時(shí)間,又節(jié)約了設(shè)備成本。
吉時(shí)利向您推薦2600-PCT-xB系列測(cè)試系統(tǒng),可提供高達(dá)10kV或100A的電壓、電流范圍,不僅可以進(jìn)行常規(guī)的IV測(cè)量,還可增加選件實(shí)現(xiàn)大功率的CV測(cè)量。該測(cè)試系統(tǒng)可以滿足各類(lèi)大功率半導(dǎo)體器件的測(cè)試要求,而且該系統(tǒng)可以兼顧器件封裝后和片上測(cè)量,用一套系統(tǒng)就能實(shí)現(xiàn)器件不同階段的檢測(cè),既簡(jiǎn)化了測(cè)試環(huán)節(jié)也節(jié)省了設(shè)備成本。