PHASCOPE PMP10 測(cè)厚儀手持式儀器,PHASCOPE PMP10 測(cè)厚儀用于非破壞性的測(cè)量多種基材上的,PHASCOPE PMP10 測(cè)厚儀包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度。
特點(diǎn)
- 手持式儀器,根據(jù)相位敏感電渦流法快速、準(zhǔn)確地測(cè)量鍍層厚度,符合 DIN EN ISO 21968 標(biāo)準(zhǔn)
- 可測(cè)量印刷電路板上的銅厚度(頻率為60 kHz 或 240 kHz 的探頭 ESD20Cu)
- 可測(cè)量印刷電路板中孔銅厚度(探頭 ESL080)
- 可測(cè)量鐵、非鐵金屬或非導(dǎo)電部件上金屬涂層的厚度
- 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter®具有以下功能:傳輸和保存測(cè)量值,全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估,簡(jiǎn)便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 測(cè)量鋼鐵上的鋅、銅或鋁鍍層(適合粗糙表面的探頭ESD20Zn)
- 鋼制小部件上的鋅鍍層(用于較小測(cè)量面積的探頭 ESD2.4)
- 鋼鐵上的電鍍鎳層(探頭ESD20Ni,頻率 60 KHz 或 240 kHz)