KLA D-300 探針式表面輪廓儀
Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。 創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。
探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量,與材料特性無(wú)關(guān)??烧{(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行精確測(cè)量。通過(guò)測(cè)量粗糙度和應(yīng)力,可以對(duì)工藝進(jìn)行量化,確定添加或去除的材料量,以及結(jié)構(gòu)的任何變化。
設(shè)備特點(diǎn)
· 臺(tái)階高度:幾納米至1000μm
· 低觸力:0.5至15mg
· 視頻:500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像頭
· 梯形失真校正:消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真
· 圓弧校正:消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差
· 緊湊尺寸:最小占地面積的臺(tái)式探針式輪廓儀
主要應(yīng)用
· 臺(tái)階高度:2D臺(tái)階高度
· 紋理:2D粗糙度和波紋度
· 形式:2D翹曲和形狀
· 應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力
應(yīng)用領(lǐng)域
· 半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體
· SIMS:二次離子質(zhì)譜
· LED:發(fā)光二極管
· 太陽(yáng)能
· MEMS:微電子機(jī)械系統(tǒng)
· 汽車
· 醫(yī)療設(shè)備