產(chǎn)品簡介：
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計基礎(chǔ)上的，進(jìn)行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點：
? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡
? (SVET) 掃描振動電極測試
? (SKP) 掃描開爾文探針測試
? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測試
? (SDC) 掃描電解液微滴測試
? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測試
? 兼容恒電位儀: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
? 可進(jìn)行逼近曲線實驗包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。
? 結(jié)合了表面形貌測量技術(shù)，如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP，可進(jìn)行樣品表面定距離掃描，
? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件，能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測試，取決于其的軟件模式。
產(chǎn)品簡介：
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計基礎(chǔ)上的，進(jìn)行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點：
? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡
? (SVET) 掃描振動電極測試
? (SKP) 掃描開爾文探針測試
? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測試
? (SDC) 掃描電解液微滴測試
? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測試
? 兼容恒電位儀: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
? 可進(jìn)行逼近曲線實驗包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。
? 結(jié)合了表面形貌測量技術(shù)，如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP，可進(jìn)行樣品表面定距離掃描，
? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件，能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測試，取決于其的軟件模式。
產(chǎn)品簡介：
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計基礎(chǔ)上的，進(jìn)行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點：
? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡
? (SVET) 掃描振動電極測試
? (SKP) 掃描開爾文探針測試
? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測試
? (SDC) 掃描電解液微滴測試
? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測試
? 兼容恒電位儀: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
? 可進(jìn)行逼近曲線實驗包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。
? 結(jié)合了表面形貌測量技術(shù)，如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP，可進(jìn)行樣品表面定距離掃描，
? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件，能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測試，取決于其的軟件模式。
