設(shè)備亮點(diǎn)
1、探頭
采用低能量的X射線,核心部件歐美進(jìn)口,污染、環(huán)保豁免、壽命長。X光束的能量可以通過調(diào)節(jié)加速電壓來優(yōu)化測量范圍2、掃描架
O型掃描架,采用鋼板一體折彎而成,不易變形,全封閉式設(shè)計(jì)。
3、驅(qū)動(dòng)、通訊
采用高精度伺服電機(jī),定位精度高,重復(fù)性好,速度閉環(huán)控制功能;
采用Ethercat無延時(shí)實(shí)時(shí)網(wǎng)絡(luò)通訊,信號(hào)采樣周期10ms,幾臺(tái)測厚儀做同點(diǎn)測量時(shí),確保幾臺(tái)測厚儀的掃面路徑一致
4、差值算法
同點(diǎn)測量應(yīng)用時(shí),X射線測厚儀不能使用簡單的面密度差值算法,我公司采用美國公司的專業(yè)X射線測厚儀的差值算法,精準(zhǔn)的將凈涂布量的面密度計(jì)算出來
應(yīng)用范圍:CPP/CPE、PET film、PC/PMMA film、Optical film、Nonwovens、PI film、PVB film、Copper/Aluminum foil 等!
測量范圍: 6um – 5mm
測量精度: 0.1um
響應(yīng)時(shí)間: 10ms