D-30型 低本底單路放射性測(cè)量?jī)x
D-30高精度放射性測(cè)量?jī)x就弱放射性樣品進(jìn)行測(cè)量與分析,被測(cè)樣品可以是電沉積樣品,也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為f30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器,抗干擾屏蔽,本底低,功耗小。廣泛服務(wù)于地質(zhì)勘測(cè)、地質(zhì)調(diào)查、醫(yī)院、防疫站、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠(chǎng)的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總a放射性活度,弱放射性測(cè)量?jī)x主要技術(shù)功能:
l 探測(cè)器:金硅面壘f30 mm,
l 儀器本底:≤5cph
l 探測(cè)效率:≥36%(2π,239Pu源)
l 計(jì)數(shù)容量:99999999
l 定時(shí)測(cè)量:定時(shí)時(shí)間在1—9999min內(nèi)可選擇設(shè)置
l 測(cè)量范圍: 5*10-4Bq/kg--5*106Bq/kg
l 靈敏度:優(yōu)于5•10-4cpm/Bq/kg
l 穩(wěn)定性:≤5%
l 準(zhǔn)確性:≤±5%
l 功 耗:: ≤200mW ; ≤600mW
l 使用條件:溫度 -5℃?50℃ ; 濕度 ≤95%(40℃)
l 供電電源:6v蓄電池,充電一次可工作12小時(shí)