國*大功率IGBT全參數(shù)自動測試系統(tǒng)
我公司科研人員經(jīng)過連續(xù)技術攻關, 在原有半導體分立器件自動測試系統(tǒng)基礎上, 自行研發(fā)出*臺1250A大電流測試臺，圓滿解決了功率IGBT等新型半導體器件的全參數(shù)測試難題,*了國內(nèi)在半導體自動測試領域的空白，該項產(chǎn)品綜合技術指標達到水平。
目前我公司提供的該項新產(chǎn)品采用模塊式功放結構, 主極電流400A/500A/1000A/1250A可選, 2500A/5000A選項可以根據(jù)用戶需要定制。
該產(chǎn)品可測IGBT參數(shù)包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,r CE等全直流參數(shù), 所有小電流指標保證1%重復測試精度, 大電流指標保證2%以內(nèi)重復測試精度, 達到目前國外進口同類產(chǎn)品水平。
絕緣柵雙極晶體管測試參數(shù)及精度
| 電參數(shù)名稱 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 分辨率 | 精度 |
| ICES IGESF IGESR | 0.10V - 999V（2000V）（1） 0.10V - 20V（80V）（3） | 100nA（100pA）（2） - 50mA 100nA（100pA）（2）- 3A | 1nA（50pA）（2） | 1%+10nA+20pA/V （1%+200pA+2pA/V）（2） |
| BVCES | 0.1V-450V（900V）（1） - 700V（1400V）（1） - 800V（1600V）（1） | 100μA - 200mA -100mA -50mA | 5mV | 1%＋100mV |
| VGETH | 0.10V- 20.0V（80V）（3） | 100nA- 3A | 5mV | 1%+10mV |
| VCESAT ICON VGEON VF GFS（混合參數(shù)） | VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V | IC: 10μA-49.9A（250A）（4） - 25A（125A）（4） IGE、IF: 100nA - 10A | 5mV | V: 1%+10mV IC,IF: 1%+100nA IGE: 1%+5nA |
（1） 需要主極2000V選件；
（2） 需要小電流臺選件
（3） 需要柵極80V選件
（4） 需要1250A大電流臺
該產(chǎn)品可針對目前封裝的多單元IGBT特征, 根據(jù)用戶需要提供4/ 8/ 20單元掃描測試適配器, 從而實現(xiàn)多單元封裝器件的一次性全參數(shù)測試.與進口測試系統(tǒng)相比, 該產(chǎn)品可同時對各種功率的其它10-19多類半導體分立器件進行全參數(shù)測試, 具有更高的使用效率。與國外同類產(chǎn)品相比, 該產(chǎn)品具有更高的性能價格比和國外廠家不能做到的優(yōu)質(zhì)售后服務。
YB6000系列主要特征簡述：
1、YB半導體分立器件測試儀是我公司從國外引進的國產(chǎn)化項目。產(chǎn)品目前已通過國內(nèi)兩家計量站的綜合檢測認定。經(jīng)過與國內(nèi)其他測試系統(tǒng)對比使用，YB測試系統(tǒng)在系統(tǒng)硬件的可靠性、穩(wěn)定性、功率范圍、測試范圍、系統(tǒng)測試精度、測試參數(shù)的*性等多項指標已遠遠超過國內(nèi)產(chǎn)品。 YB測試系統(tǒng)目前是國內(nèi)的半導體分立器件測試測試儀器。
2、作為精密儀器引進項目，YB系統(tǒng)嚴格按照國軍標產(chǎn)品之標準，全部選用優(yōu)質(zhì)可靠的元器件。系統(tǒng)嚴格按照軍用整機檢驗標準進行測試檢驗，確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。YB所使用的各種繼電器，全部采用國外公司生產(chǎn)的水銀繼電器，從而大大提高了系統(tǒng)的測試速度，提高了系統(tǒng)的使用壽命。
3、服務周到是我公司的優(yōu)勢之一。選用YB系統(tǒng)，享受YB服務，我們的服務可以在一小時內(nèi)答復解決方案，到達用戶現(xiàn)場當天解決系統(tǒng)出現(xiàn)的所有問題。
4、YB在實際操作中，可真實達到電壓2000V、電流50A的測試條件。在極限值條件下測試，系統(tǒng)同樣保持高精度和良好的重復性、穩(wěn)定性。此項指標遠遠于國內(nèi)其他產(chǎn)品。
5、本系統(tǒng)測試原理和方法符合國家相關規(guī)范和標準。
6、大功率器件測試采用脈沖法測試，脈沖寬度為規(guī)定的300uS。
7、系統(tǒng)硬件設計*，升級能力強。為用戶今后做系統(tǒng)升級提供了有力的技術保障。系統(tǒng)硬件支持電壓升級到5000V，電流升級到1250A。
8、系統(tǒng)采用*的嵌入式計算機結構，可以實現(xiàn)脫機測試功能。提高了系統(tǒng)的可靠性和使用靈活性。
9、YB系統(tǒng)和測試夾具全部采用多級開爾文技術，采用無電纜連接設計結構，保證測試結果準確可靠。各種測試夾具均由高級器件插座和高級插頭采用開爾文技術連接裝配，不僅確保長壽命工作，可靠性*，*使用壽命在5X106次以上。使測試數(shù)據(jù)更加準確無誤。
10、系統(tǒng)具有被測器件引腿接觸自動判斷功能。遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止對被測器件測試，可確保被測器件不受損壞。
11、真正的動態(tài)跨導測試。（國內(nèi)其他系統(tǒng)采用直流方法測動態(tài)跨導，測試結果與器件實際值偏差很大）。
12、二極管極性自動判別測試功能，不需人工判別極性測試，方便操作。
13、具有單參數(shù)測試延時編程功能，用戶可根據(jù)不同器件要求選擇延遲時間，增強參數(shù)測試穩(wěn)定性。
14、豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力，方便的用戶信息文件、統(tǒng)計文件方式，可以給出批次測試失效數(shù)量、合格數(shù)量，按實測指標分類器件數(shù)量。測試結果可以給出excel等多種形式。
15、96個程序步，99種分類。
16、混合參數(shù)編程方式（參數(shù)測試編程不受器件類別限制），可以對同一器件選用不同類別器件的參數(shù)進行編程，大大的擴展系統(tǒng)測試能力，對被測器件進行測試和分析，軟件使用方便靈活。自動/固定量程測試功能，選用自動量程時，系統(tǒng)根據(jù)實測范圍自動調(diào)整以達到zui高測試精度。內(nèi)部設有可選擇的電流型負載和阻型負載。
17、阻型負載：機內(nèi)設有不同阻值的電阻負載供選擇。
18、電流型負載：機內(nèi)設有不同檔位的恒流源負載供選擇。
19、用戶可以按照參數(shù)要求，自己設定參數(shù)自動分檔功能，以便把不同參數(shù)的器件自動加以區(qū)分、配對提高器件使用價值。
20、高速參數(shù)測試和存儲功能，參數(shù)分析能力。平均每參數(shù)測試時間只有1毫秒。
21、在線系統(tǒng)故障判斷修復能力，便于用戶應急處理排除故障。
22、自檢、自校準功能。系統(tǒng)提供自檢測試程序和夾具。系統(tǒng)故障自動判別到器件級。自校準功能可將系統(tǒng)誤差存入內(nèi)置計算機，不需人工校準即可實現(xiàn)精確測試。
23、錯誤信息提示和在線幫助，面板顯示被測器件不合格參數(shù)和單步實測參數(shù)值。在線幫助是在線提示用戶如何簡便使用該測試系統(tǒng)。
24、測試結果計算功能，系統(tǒng)可以將任意測試程序步的測試結果進行計算，形成新的測試結果，方便用戶進行分析，解決、擴展特殊參數(shù)的測試可以將測試程序中任意步的測試結果進行計算，形成新的測試結果，方便用戶對器件進行分析。
25、單步測試功能，用于對單個參數(shù)進行測試，同時將測試結果值在前面板上顯示，方便用戶分析。
26、測試結果分檔功能：用戶可以按照參數(shù)要求，設定參數(shù)自動分檔功能，系統(tǒng)把不同參數(shù)的器件自動加以區(qū)分、配對，提高器件使用價值。
27、機械手、探針臺、多終端、可選掃描、多路陣列擴展測試能力。
28、可進行實時運算，允許測試結果比較與數(shù)值計算。
29、功率源選用久經(jīng)驗證的電源線路，結合航天電源設計經(jīng)驗，在此基礎上形成具有自主產(chǎn)權的功率源發(fā)明技術。
30、系統(tǒng)設計綜合美國、日本多種*結構技術。
31、承諾確保系統(tǒng)使用壽命可以達到十年以上，系統(tǒng)功能正常，參數(shù)指標符合出廠標準。
上述只列出該系統(tǒng)的部分常用特征。其它多種綜合處理能力在使用中可以不斷開發(fā)擴大。可根據(jù)用戶測試使用的要求，方便地選通其他特征。
