博曼x熒光膜厚測試儀性能特點
1、上照式
2、測試組件可升降
3、高精度移動平臺
4、小準(zhǔn)直器
5、高分辨率探頭
6、可視化操作
7、自動定位高度
8、自動尋找光斑
9、鼠標(biāo)定位測試點
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設(shè)計
12、測試口安全防護(hù)
博曼x熒光膜厚測試儀是一款設(shè)計緊湊靈活、功能強(qiáng)大的膜厚儀，可以滿足各個行業(yè)中對質(zhì)量保證和過程控制的要求。
用*的X射線技術(shù),可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強(qiáng)大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上，拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量。
測量技術(shù)同行15年，在同測量領(lǐng)域風(fēng)蚤，成為膜厚儀*，精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，*的技術(shù)，嚴(yán)格的品質(zhì)要求，可靠、可信、快速的服務(wù)，及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持，值得您的信賴。
: 舒翠
手機(jī):
:
傳真:
: sc@kinglinhk.net
地址: 寶安區(qū)沙井北環(huán)大道110號新橋綜合大樓502
