S-4800日立掃描電子顯微鏡（SEM）
Hitachi S-4800簡介：
日本Hitachi公司生產S-4800型SEM，采用的E×B技術，可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號。配有X-射線能譜儀，可在形貌觀察的同時進行樣品成分分析。
儀器主要配置：
X射線能譜儀，離子濺射儀，真空蒸鍍儀，冷凍干燥機。
主要性能指標：
1. 二次電子分辨率：1.4nm（1kV，減
S-4800日立掃描電子顯微鏡（SEM）
Hitachi S-4800簡介：
日本Hitachi公司生產S-4800型SEM，采用的E×B技術，可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號。配有X-射線能譜儀，可在形貌觀察的同時進行樣品成分分析。
儀器主要配置：
X射線能譜儀，離子濺射儀，真空蒸鍍儀，冷凍干燥機。
主要性能指標：
1. 二次電子分辨率：1.4nm（1kV，減速模式）；1nm（15kV）
2. 電子槍：冷場發(fā)射電子源
3. 加速電壓：0.5 ～ 30 kV
4. 放大倍數：×20 ～ ×800,000
5. 探測器：低位/高位二次電子探測器
應用領域：
主要用于生物體、高分子、無機非金屬、金屬材料等樣品的表面形貌觀察及元素成分分析。廣泛應用于生物、能源、材料、化工、環(huán)境等研究領域。
