MIKRON M315 X黑體源(X4, X6, X8, X12)

方形大面積源，校準(zhǔn)紅外熱像儀系統(tǒng)、輻射計(jì)、熱流量計(jì)、光譜分析儀。

(環(huán)境溫度+5) ... 400°C

加熱及發(fā)射腔體形狀:

熱均勻面

輻射率：

有效輻射率= 0.9999，波段：8...14 μm

(其他波段的輻射率溫度校準(zhǔn)表有效)

標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法：

熱輻射校準(zhǔn)

發(fā)射面尺寸：

M 315 X4: 101 x 101 mm

M 315 X6: 152 x 152 mm

M 315 X8: 204 x 204 mm

M 315 X12: 305 x 305 mm

溫度精度:

1°C (<100°C) 至1.3°C (400°C)

平均升溫時(shí)間：

60 分鐘 (至 400°C)

尺寸 [mm] (HxD) / 重量:

X4: 280 x 254 x 280 至 X12: 510 x 660 x 585

控制模塊: 78 x 483 x 593

MIKRON M315 X黑體源

Mikron  M315X系列黑體校準(zhǔn)源滿足紅外焦平面陣列檢測(cè)器，熱成像，和FLIR系統(tǒng)在投影場(chǎng)景和現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用測(cè)試的嚴(yán)格參數(shù)。 

M315X系列校準(zhǔn)源通過精密加熱元件電阻加熱，以提供均勻的溫度分布。兩件式系統(tǒng)由控制器模塊和用于發(fā)射源的單獨(dú)外殼組成。 兩根連接電纜可將黑體源與控制器之間的距離分隔為3.6 m（12英尺）。

好處

滿足紅外焦平面陣列探測(cè)器，熱成像和FLIR系統(tǒng)測(cè)試在投影場(chǎng)景和野外應(yīng)用中的嚴(yán)格參數(shù)
實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨率
確保溫度分布均勻
用精密數(shù)字PID控制器控制發(fā)射源溫度
保證您的校準(zhǔn)質(zhì)量

特征

出色的通用校準(zhǔn)
大光圈
通過精密加熱元件電阻加熱
RS232（標(biāo)準(zhǔn)）或RS485（可選）串行通訊輸出
高發(fā)射率和均勻性