MIKRON M315 X-HT中溫大面源，校準(zhǔn)紅外熱像儀系統(tǒng)、輻射計(jì)、熱流量計(jì)、光譜分析儀，通過精確的熱電模塊冷卻或者加熱。中溫型號(hào)。
上海明策電子科技有限公司
了解更多MIKRON M 315 X-HT價(jià)格及信息，請(qǐng)公司
MIKRON M315 X-HT中溫大面源
Mikron M315X-HT黑體校準(zhǔn)源滿足紅外焦平面陣列檢測器，熱成像儀，和FLIR系統(tǒng)在投影場景和現(xiàn)場應(yīng)用測試在需要更高的溫度的嚴(yán)格參數(shù)。
M315X-HT黑體源通過精密加熱元件電阻加熱，以提供均勻的溫度分布。兩件式系統(tǒng)由控制器模塊和用于發(fā)射源的單獨(dú)外殼組成。
發(fā)射器源溫度控制由精密數(shù)字PID控制器執(zhí)行，該控制器安裝在7英寸（180毫米）高19英寸機(jī)架安裝式機(jī)箱中。
方形大面積源，校準(zhǔn)紅外熱像儀系統(tǒng)、輻射計(jì)、熱流量計(jì)、光譜分析儀，通過精確的熱電模塊冷卻或者加熱。中溫型號(hào)。
MIKRON M315 X-HT中溫大面源優(yōu)勢
從4 x 4 in到12 x 12 in的四種孔徑中選擇
校準(zhǔn)并驗(yàn)證高溫計(jì)，熱成像儀等的輸出信號(hào)。
實(shí)現(xiàn)高精度和可重復(fù)性
用精密數(shù)字PID控制器控制發(fā)射源溫度
高發(fā)射率，具有穩(wěn)定的穩(wěn)定性和均勻性
帶有精確加熱元件的均勻溫度分布
配有可追溯至NIST的校準(zhǔn)證書
RS232（標(biāo)準(zhǔn)）或RS485串行通訊
穩(wěn)定的RTD確保系統(tǒng)的*溫度穩(wěn)定性
(環(huán)境溫度 +5) ... 600°C
加熱及發(fā)射腔體形狀:
熱均勻面
輻射率：
有效輻射率= 0.9999, 波段： 1…1.07μm
有效輻射率=0.975, 波段：8…14 μm
(其他波段的輻射率溫度校準(zhǔn)表有效)
標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法：
熱輻射校準(zhǔn)
發(fā)射面尺寸：
M 315 X4-HT: 101 x 101 mm
M 315 X6-HT: 152 x 152 mm
M 315 X8-HT: 204 x 204 mm
M 315 X12-HT: 305 x 305 mm
溫度精度:
1°C (<100°C) 至1.3°C ( 400°C)
平均升溫時(shí)間：
60 分鐘 (至 600°C)
尺寸 [mm] (HxD) / 重量:
X4: 280 x 254 x 280 to X12: 510 x 660 x 585
控制模塊: 178 x 483 x 593
