GALVANOTEST 2000庫侖電鍍層測厚儀利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層。符合標準：DIN EN ISO 2177。
GALVANOTEST2000電鍍層測厚儀，GALVANOTEST2000電解膜厚儀技術(shù)參數(shù)：
GALVANOTEST 可以測量
可以測量70種以上鍍層/基體組合
可以測量平面、曲面上的鍍層
可以測量小零件、導線、線狀零件
預置10種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金（需提供樣品確定）
預置9種金屬的測量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
用戶可另設置1種金屬的測量參數(shù)
測量機構(gòu)：
帶循環(huán)泵
帶氣泵
測量面積：
密封墊 8 mm2
密封墊 4 mm2
密封片 1 mm2
密封片 0.25 mm2（涂鍍層面積幾乎小得看不見）
電解杯 0.25-16 mm2 （可選件）
測量參數(shù)*化調(diào)整：
除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào)
根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù)
可用厚度標準樣板校準
可調(diào)整終點電壓，以抗干擾，適應鍍層/基體之間的合金
