我們現(xiàn)實能測量到的都是顆粒的等效粒徑?，F(xiàn)存的所有粒徑測量方法，都假設了被測顆粒是圓球形的，測量原理在理想條件下對圓球形顆粒嚴格成立。測量儀器把顆粒的粒徑值轉換成某一個或一組中間量，測得中間量的數(shù)值后，儀器再把它（們）轉換成粒徑。實際上大多數(shù)情況下儀器無從知道顆粒的真實情況。在獲得必要的中間量數(shù)據后，儀器或者操作者在圓球形、條件理想的假設下，推算出被測顆粒的粒徑（有時是粒度分布）。

    對顆粒不規(guī)則，或者測試條件不理想的情況（在大多數(shù)實際測量中，要么顆粒不規(guī)則，要么測試條件不理想，要么二者兼而有之），最終給出的粒度結果與人們的直觀想象或理論粒徑會有一定的差距。在多數(shù)情況下，人們主要關心顆粒樣品的平均粒徑（D50）和均勻性，有時還關心粒（Dmax）和最小粒(Dmin),激光粒度儀能夠對顆粒進行粒徑測量并給出對應的粒度分布表。

LT2100系列性能指標