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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
雷達物位計原理
雷達物位計是一種非接觸、低維護量的測量方式。雷達測量技術(shù)可以測量從發(fā)射信號到返回信號的時間差，從而測算可測量距離和物位，由于微波信號的傳輸不需要借助，所以它*不受工藝過程中蒸汽、壓力、粉塵或溫度的影響；
雷達物位計原理
應用特點：
1. 適用于測量過程容器以及苛刻或惡劣工況條件下的液體或漿料；
2.適用于測量儲罐液體、漿料。是用于粉塵或低介電常數(shù)的液體測量的理想選擇；
3. 它提供了*的信噪比，并集成了更*的“現(xiàn)場智能”技術(shù)，可用各種固體的測量；
注意事項
1、測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。
2、介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。
3、理論上測量達到天線的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的至少100mm。
4、對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。
5、小測量范圍與天線有關(guān)。
6、隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。
雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。
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