一、液槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱用途：

     適用于國(guó)防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、新能源、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.

二、液槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)

GJB150.4-86 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GJB150.3-86 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

IEC68-2-14 試驗(yàn)N：溫度變化

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB 2423-22環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

MIL-STD-202F美軍標(biāo)準(zhǔn),電子及電氣試驗(yàn)方法

MIL-STD-883E美軍標(biāo)準(zhǔn),集成電路失效分析方法

三、特性：  

◆　產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝*、選材考究，具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。  

◆　系統(tǒng)結(jié)構(gòu)可分為高溫液槽（預(yù)熱區(qū)）。低溫液槽（預(yù)冷區(qū)）二部分整體為臥式左右結(jié)構(gòu)，下半部分為制冷機(jī)械裝配

      結(jié)構(gòu)。門(mén)上采用內(nèi)嵌發(fā)熱體的大型真空鋼化玻璃透視窗采用雙開(kāi)門(mén)，開(kāi)門(mén)整機(jī)斷電停止運(yùn)行。通過(guò)控制機(jī)械傳動(dòng)部

    件將測(cè)試樣品交替置入高，低溫液槽的方式來(lái)模擬高溫和低溫之間的瞬間變化環(huán)境

◆　采用采用先進(jìn)的計(jì)測(cè)裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可

      靠，中、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

◆　具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，zui大程度上

     實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)/停止工作運(yùn)行；

◆　箱體左側(cè)具一直徑50mm之測(cè)試孔，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。

◆　具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高

◆　科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保

      證設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。

◆　可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)） 除霜.

◆　運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時(shí),螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法。

◆　冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，冷凍機(jī)組采用歐美進(jìn)口壓縮機(jī)，并采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保HFC）

     制冷劑R404A，R23.  

四、主要參數(shù)

n溫度暴露范圍：+60℃ ～ +150℃/-65℃ ～ 0℃

n測(cè)試時(shí)間： ≥10min

n溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：≥30S

n測(cè)試方式：試樣放入不同溫度的液體介質(zhì)中