濟(jì)南眾測(cè)機(jī)電設(shè)備有限公司研發(fā)生產(chǎn)的紙張測(cè)厚儀THK-01通過調(diào)節(jié)測(cè)量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測(cè)試。

紙張測(cè)厚儀

測(cè)試原理
機(jī)械接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，在一定壓力和一定接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。

符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

主要參數(shù)：
測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）；0～6mm、0～12mm（選配）
分辨率：0.1μm
測(cè)試速度：1～25次/min
測(cè)量頭平行度：±2μm（機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn)）
重復(fù)性：0.3μm
測(cè)量壓力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(紙張)；
接觸面積：50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)；
薄膜、紙張任選一種，非標(biāo)可定制
電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
約凈重：30Kg

應(yīng)用范圍：
1、用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度測(cè)量；
2、對(duì)金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度測(cè)量；
3、接觸式測(cè)試原理更有效的檢測(cè)出太陽能硅片上每個(gè)點(diǎn)的厚度值；
4、通過調(diào)節(jié)測(cè)量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測(cè)試；