詳細摘要: X 射線衍射儀主要應(yīng)用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、晶體的取向性分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力的測定、晶粒大小測定、結(jié)晶度測...
產(chǎn)品型號:BXS05-TD-3500所在地:更新時間:2023-11-03 在線留言
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詳細摘要: X 射線衍射儀主要應(yīng)用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、晶體的取向性分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力的測定、晶粒大小測定、結(jié)晶度測...
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