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產(chǎn)品簡介 十字嵌鉛刻度軟米尺(軟鉛尺) KR020長30cm，寬3cm，1mm刻度間距，嵌鉛刻度。

低對比度檢測模體是一種專門用于檢測醫(yī)學影像設(shè)備成像質(zhì)量的工具，主要用于評估和提升X射線放射影像系統(tǒng)、CR系統(tǒng)等設(shè)備的性能。

低對比度細節(jié)檢測模體是一種專門用于檢測X射線等設(shè)備在低對比度環(huán)境下性能的實驗工具。低對比度細節(jié)檢測模體的使用可以幫助醫(yī)療人員更好地理解影像設(shè)備的性能表現(xiàn)，進而更...

德國IBA TYPE39c型 線對卡主要用于測試X射線機的高分辨率。量程：1.5-12LP/MM，組數(shù)14組。鉛箔厚度為0.06mm, 尺寸為30X60mm.

雙絲像質(zhì)計（德國）根據(jù)ISO19232-5/EN462-5/ASTM E2002標準生產(chǎn)，ISO19232-5/ EN462-5/ASTM E2002雙絲像質(zhì)計...

雙絲像質(zhì)計介紹雙線像質(zhì)計的樣式和主要尺寸如圖1所示, 基本結(jié)構(gòu)包括:封裝板、13個絲對、識別標志號,各部分經(jīng)粘結(jié)構(gòu)成具有一定剛性的整體。金屬絲的材質(zhì)為鉑和鎢。

JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會）致力于關(guān)注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦...

先jin的微米技術(shù)實現(xiàn)了具有 16 種不同寬度（3 至 50μm）的高精度線對分辨率測試卡。 當今，微焦點成為主流的 X 射線光束尺寸，而分辨率測試卡則是調(diào)整、...

產(chǎn)品簡介 ?德國IBA type81型線對卡型線對卡主要用于測試X射線機的高分辨率。?量程：0.6-10.0LP/MM，組數(shù)26組。鉛箔厚度為0.1mmPb 和...

產(chǎn)品簡介 十字嵌鉛刻度米尺(鉛尺) KR019長30cm，寬3cm，1mm刻度間距，嵌鉛刻度。1套2把鉛尺帶有機玻璃鉛尺盒。

產(chǎn)品簡介 嵌鉛刻度米尺(鉛尺) KR018長30cm，寬3cm，1mm刻度間距，嵌鉛刻度。

過濾板套裝(銅板、鋁板、鉛板)KR012-KR0170.5mm厚銅板20cm x 20cm - KR0121.5mm厚銅板20cm x 20cm - KR013

用于檢測 X 射線機光野與照射野的一致性。 該模體也用于 檢測活動濾線柵（Bucky）夾中心的定位。

患者體厚模體 序號：VD0203200 有外支撐盤的25mm厚鋁，配合Primus I-L或 DIGI-13模體在檢測中使用。

Primus I-L 檢測模體 序號：VD0203525 根據(jù)DIN 6868－4，2007標準，用于數(shù)字透視（動 態(tài)平板）或常規(guī)透視（影像增強器電視）X射線 ...

Primus I-S 檢測模體序號：VD0203515 根據(jù)DIN 6868－4，2007標準，用于數(shù)字透視（動 態(tài)平板）或常規(guī)透視（影像增強器電視）X射線 系...

?滿足《WS76-2020醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測規(guī)范》?數(shù)字X射線攝影及透視系統(tǒng)檢測模體可檢測的參數(shù)：?空間（線對）分辨力?低對比分辨力?高對比分辨...

低對比度細節(jié)檢測模體用于快速定量檢測影像成像質(zhì)量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)，CR系統(tǒng)(TO16);2.直徑250mm，厚度10mm;圓板中有12組不同細節(jié)點，...

低對比度細節(jié)檢測模體 英國Leeds / TO16 / TO201.低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質(zhì)量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)，CR系統(tǒng)(TO16...

低對比度-細節(jié)模體 CD DISC2.0 包括分析軟件和便攜箱 序號：VD0203720 它為透視系統(tǒng)質(zhì)控專用的對比度-細節(jié)模體，向臨床提供可量 化的對比度細節(jié)...