目錄:廣東皓天檢測儀器有限公司>>快速溫變試驗箱>> TEE-600PF快速溫變濕熱試驗箱芯片研發(fā)支持
參考價 | ¥37800-¥87800 | /臺 |
參考價:¥37800 ~ ¥87800
產地 | 國產 | 額定電壓 | 380V |
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加工定制 | 否 | 適用領域 | 科研 |
溫度波動度 | ±0.5℃ | 溫度范圍 | -70~150℃ |
溫度均勻度 | 2.0% | 重量 | 500kg |
溫度偏差 | ±2.0℃ | 溫度恢復時間 | ≤5min |
切換時間 | ≤10ses | 噪音 | ≤65 |
外殼材料 | 防銹處理冷軋鋼板噴涂 | 內箱 | 不銹鋼 |
制冷機 | 泰康 | 內箱容積 | 600升 |
工作室尺寸 | 80×80×90cm | 設定精度 | 溫度 0.1℃、濕度 1% RH |
線性降溫速率 | 5℃/min |
芯片研發(fā)支持
在芯片的研發(fā)階段,快速溫變試驗箱可以幫助研發(fā)人員了解芯片在不同溫度條件下的性能表現(xiàn),為芯片的設計和優(yōu)化提供依據,提高芯片的性能和可靠性。
例如,研發(fā)人員可以通過快速溫變試驗箱測試不同材料、不同工藝制造的芯片在溫度變化下的性能差異,從而選擇優(yōu)的材料和工藝,提高芯片的性能和可靠性。
溫度性能
溫度范圍:-60℃~150℃,寬廣的溫度范圍能夠模擬芯片在不同環(huán)境下的使用條件,滿足芯片在多種應用場景中的可靠性測試需求.
升溫速率:線性升溫速率有 5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min 等可選,可根據不同芯片的測試標準和要求,選擇合適的升溫速率,以準確評估芯片在快速升溫過程中的性能和可靠性 。
降溫速率:線性降溫速率同樣有 5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min 等多種選擇,可模擬芯片在實際使用中可能遇到的快速降溫環(huán)境,檢測芯片在低溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性 。
濕度性能
濕度范圍:20%~98% RH,芯片在不同的濕度環(huán)境中,其性能可能會受到影響,該試驗箱的濕度范圍可滿足對芯片在不同濕度條件下的可靠性測試,如高濕度環(huán)境下芯片的防潮性能、低濕度環(huán)境下芯片的靜電釋放等問題的檢測.
控制精度
溫度控制精度:達到 0.1℃,高精度的溫度控制能夠確保試驗箱內溫度的穩(wěn)定性和準確性,為芯片可靠性測試提供精確的溫度環(huán)境,減少因溫度波動而導致的測試誤差.
濕度控制精度:控制精度為 1% RH,精確的濕度控制可保證試驗箱內濕度的穩(wěn)定,有助于更準確地評估芯片在不同濕度條件下的性能變化.
傳感器類型
采用鉑金電阻 PT100Ω/mV 傳感器,具有高精度、高穩(wěn)定性和快速響應的特點,能夠準確地測量試驗箱內的溫度和濕度變化,為控制系統(tǒng)提供精確的反饋信號,確保試驗箱的溫度和濕度控制精