半導(dǎo)體，指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣體之間的材料，半導(dǎo)體產(chǎn)品主要分為四大類，分別包含集成電路（IC），光電子器件，分立器件和傳感器， ITECH針對(duì)封裝后的IC的測(cè)試，半導(dǎo)體激光器，光電照明器件的測(cè)試，二極管，三極管，場(chǎng)效應(yīng)管，可控硅，IGBT，保險(xiǎn)絲，繼電器等分立器件以及傳感器的測(cè)試都有配套的解決方案，如IC老化測(cè)試，供電測(cè)試，分立器件的導(dǎo)通測(cè)試等，尤其是半導(dǎo)體激光器的測(cè)試，依托于IT-M3100和IT6000C的CC/CV優(yōu)先權(quán)設(shè)定以及環(huán)路速度可調(diào)的功能，可有效抑制開(kāi)機(jī)過(guò)沖，保護(hù)半導(dǎo)體DUT。