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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地無錫市
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更新時(shí)間：2025-02-03 09:07:53瀏覽次數(shù)：65次
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X熒光光譜儀(真空型)配置真空測試系統(tǒng)以及SDD（硅漂移）探測器，元素測試范圍廣、檢出限低、數(shù)據(jù)穩(wěn)定性好。
廣泛應(yīng)用于電子、電器、塑膠塑料、五金、玩具、包裝印刷以及產(chǎn)品等公司內(nèi)部進(jìn)行質(zhì)量把控。
適用于ROHS檢測、鹵素測試、玩具重金屬檢測和合金元素分析等各領(lǐng)域使用。
| 探測器 | 美國Amptek SDD探測器，高速脈沖分析系統(tǒng) |
| 高壓電源 | 美國Spellman (50kv/MA) |
| X射線管 | 新型X光管 |
| 能量分辨率 | 140±5ev |
| 元素分析范圍 | 鈉（Na）到鈾（U） |
| 分析含量 | 1ppm到99.99% |
| 測量時(shí)間 | 60—300s |
| 交流220v供電設(shè)備 | 1KVA交流凈化穩(wěn)壓電源 |
| 工作溫度 | 10-30°C |
| 測量條件 | 大氣環(huán)境 |
合金（如不銹鋼、銅合金、鋁合金等合金）所含元素含量分析（如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素）。
不銹鋼元素含量分析
銅合金元素含量分析
鋁合金元素含量分析
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