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上海拜能儀器儀表有限公司
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  • 冠層分析系統(tǒng)

    通過測量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI);SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。

    型號(hào): SunScan 所在地:國外參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2018/5/15 14:02:26 對(duì)比
    SunScan冠層分析系統(tǒng)

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