測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

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   膜厚儀（測厚儀）厚度測試 儀上用標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書），美國Calmetrics公司是專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光金屬鍍層測厚儀標準片及RoHS標準片，以及對標準片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術(shù)研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。

   所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書.

   歡迎廣客戶前來咨詢，在聯(lián)系我的時候請了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我們更好的溝通與合作,謝謝！