XDL系列牛津測(cè)厚儀-進(jìn)口測(cè)厚儀-蘇州吉恩斯檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司

測(cè)量范圍	0-80um	產(chǎn)地	進(jìn)口
加工定制	是

　　滿足復(fù)雜需求的X射線熒光分析

　　FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中的一款進(jìn)口測(cè)厚儀，測(cè)試類型為X射線熒光測(cè)量?jī)x器。和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測(cè)量的，這使得測(cè)試形狀奇怪的樣品也變得輕松便捷，為了優(yōu)化您的任務(wù)的測(cè)量條件，配有可互換的準(zhǔn)直器和過濾器作為標(biāo)準(zhǔn)配置。

　　對(duì)測(cè)量任務(wù)的要求越高，探測(cè)器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導(dǎo)體探測(cè)器。

　　硅PIN二極管是一種中檔檢測(cè)器，非常適合在相對(duì)較大的測(cè)量區(qū)域內(nèi)測(cè)量多個(gè)元素。配備PIN的XDAL通常用于檢查硬質(zhì)材料涂層。

　　與硅PIN二極管相比，高質(zhì)量的硅漂移檢測(cè)器(SDD)具備更好的能量分辨率。如此配備的XDAL光譜儀可用于解決電子行業(yè)中的復(fù)雜測(cè)量任務(wù)：例如，測(cè)量薄合金層，或非常相似的元素(如金和鉑)的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用于ENIG和ENEPIG應(yīng)用的質(zhì)量控制。

　　對(duì)于特別棘手的挑戰(zhàn)，F(xiàn)ischer還提供帶有超大探測(cè)器表面的SDD。該探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)在于它能夠可靠地測(cè)量納米級(jí)的鍍層，并進(jìn)行痕量分析。使用這些XDAL設(shè)備，您可以測(cè)試用于高可靠性應(yīng)用的焊料中的鉛含量，從而避免錫須。

　　儀器特點(diǎn)：

　　1、牛津測(cè)厚儀采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)，用于自動(dòng)測(cè)量達(dá)到0.05μm的鍍層和用于ppm級(jí)含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀

　　2、3種不同的探測(cè)器可選(Si-PIN二極管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²)3

　　3、種可切換基本濾片

　　4、4種可切換準(zhǔn)直器

　　5、小測(cè)量點(diǎn)約為0.15mm

　　6、樣品高度可達(dá)14cm

　　7、可編程XY工作臺(tái)，定位精度為10µm

　　8、開槽箱體設(shè)計(jì)用于測(cè)量大的印刷電路板

　　9、經(jīng)過認(rèn)證的全面保護(hù)設(shè)備

　　應(yīng)用：

　　1.鍍層和合金(也包括薄涂層和低濃度)的材料分析

　　2.電子行業(yè)，ENIG，ENEPIG

　　3.連接器和觸點(diǎn)

　　4.黃金，珠寶和制表業(yè)

　　5.PCB制造薄金(幾納米)和鈀鍍層的測(cè)量

　　6.微量元素分析

　　7.高可靠性應(yīng)用的鉛(Pb)的測(cè)定(避免錫晶須)

　　8.對(duì)硬質(zhì)材料涂層的分析

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