劉經(jīng)理
當(dāng)前位置:蘇州吉恩斯檢測技術(shù)服務(wù)有限公司>>測厚儀>>鍍層厚度檢測儀>> 菲希爾FISCHERSCOPE XDL臺式鍍層厚度測試儀
測量范圍 | 0-80um | 測量精度 | 0.001um |
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產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 是 |
重量 | 75kg |
臺式鍍層厚度測試儀專為電鍍及需要表面處理的行業(yè)設(shè)計(jì)的一款高精度鍍層厚度測試的儀器,儀器采用X射線熒光分析法,可以便捷、快速、無損的分析出電鍍鍍層的厚度和電鍍液的成分。儀器連接電腦使用,操作簡單直觀,不僅方便實(shí)驗(yàn)室使用,也方便放在電鍍產(chǎn)線上對產(chǎn)品的質(zhì)量進(jìn)行控制。
臺式鍍層厚度測試儀
FISCHERSCOPE®X射線XUL®系列正是每個(gè)電鍍車間的基礎(chǔ)設(shè)備。這些簡單易用且價(jià)格適中的能量色散X射線熒光分析儀非常適合監(jiān)控鍍液成分,但在質(zhì)量控制方面也是*的幫手:堅(jiān)固耐用,非常適合測量批量生產(chǎn)的零件(如螺母和螺栓)上的電鍍層 。
XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中;或者,對于較小的物品(例如插頭),儀器可以配備手動樣品臺。盡管測量設(shè)備緊湊,但它們?yōu)槟脑嚇犹峁┝俗銐虻目臻g-高度可達(dá)17厘米。
如果您有多種不同的測量任務(wù),F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線XULM擁有可互切換的過濾器和準(zhǔn)直儀,因此您可以為所有應(yīng)用創(chuàng)造合適的測量條件。 此外,XULM具有內(nèi)置的微聚焦管,即使在測量點(diǎn)微小和鍍層很薄的情況下也能提供精確的結(jié)果。
技術(shù)指標(biāo):
多鍍層分析,1~5層;
測試精度:0.001 μm;
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);
測量時(shí)間:10~30秒;
SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;
探測器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);
6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動切換;
XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤;
高清CCD攝像頭(200萬像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;
多變量非線性去卷積曲線擬合;
高性能FP/MLSQ分析;
儀器尺寸:618×525×490mm;
樣品臺尺寸:250×220mm;
樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm。
功能特點(diǎn):
◆配備了半導(dǎo)體探測器,由于有更好的信噪比,能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量
◆使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn),但因?yàn)槠湫盘柫枯^低,不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
◆底部C型開槽的大容量測量艙
◆有彈出功能的快速、可編程XY平臺 典型應(yīng)用領(lǐng)域:
◆鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)
◆來料檢驗(yàn),生產(chǎn)監(jiān)控
◆研究和開發(fā)
◆電子工業(yè)
◆接插件和觸點(diǎn)
◆黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
◆可以測量數(shù)納米薄的鍍層,如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
◆痕量元素分析
◆在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛(Pb)含量
◆硬質(zhì)鍍層分析
應(yīng)用 :
電鍍層,例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳,用于大批量生產(chǎn)的零件(螺母和螺栓)的腐蝕防護(hù)
電鍍液中金屬含量的分析
裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS >
電子行業(yè)連接器和觸點(diǎn)上的鍍層等
軟件測試界面:
報(bào)告也可以根據(jù)客戶需要格式自己設(shè)置
也可以直接導(dǎo)出PDF,EXCEL等格式
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