臺式測厚儀規(guī)格

在電鍍及表面處理或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測定鍍層的厚度，雖然鍍層測厚儀的種類很多，但不管是磁性測厚儀，還是電解式的、庫侖式測厚儀等都達(dá)不到臺式測厚儀的精確度。臺式儀器配備SDD探測器，X射線從上向下照射，能夠在測量臺上對樣品進(jìn)行輕松定位。

臺式測厚儀規(guī)格

‘儀器特點(diǎn)

• X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)

• 由于測量距離可以調(diào)節(jié)（最大可達(dá) 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

• 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動化的批量測試

• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

• 操作簡單且性價比高。

• 自下而上進(jìn)行測量，從而快速、簡便地定位樣品

• 廣泛適用：為各個行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號

• 以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測量與元素分析

• 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機(jī)型，可對極薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測量

800A優(yōu)勢

針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點(diǎn)分析；

軟件可分析最高5層25種元素鍍層；

通過軟件操作樣品移動平臺，實(shí)現(xiàn)不同測試點(diǎn)的測試需求；

配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測器，實(shí)現(xiàn)對多鍍層樣品的精準(zhǔn)分析；

內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；

高度激光敏感性傳感器保護(hù)測試窗口不被樣品撞擊。

應(yīng)用領(lǐng)域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

手表、精密儀表制造行業(yè)

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析  

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測

其他樣品鍍層測試