氣候環(huán)境試驗(yàn)

低溫試驗(yàn)/ Cold test氣候環(huán)境試驗(yàn)

    因?yàn)榈蜏貛缀鯇λ械漠a(chǎn)品材料都有不利的影響。對于暴露于低溫環(huán)境的產(chǎn)品或裝備，由于低溫會改變其組成材料的物理特性，因此可能會對其工作性能造成暫時(shí)或*性的損害。

    低溫試驗(yàn)于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

氣候環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)：

●GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》

●IEC 60068-2-1《Environmental testing-Part2-1:Tests-Test A：Cold》

氣候環(huán)境試驗(yàn)范圍：

溫度范圍: -50℃～ 200℃

溫度均勻度: ≤2℃

濕度范圍: 0%～R.H.

濕度誤差: 2/-3%R.H.

樣品室尺寸：W50×D60×H75(cm)

氣候環(huán)境試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域：

信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.

汽車電子產(chǎn)品.電動玩具產(chǎn)品.