一、小型電子器件恒溫恒濕環(huán)境老化試驗箱概述：

        高低溫試驗箱產品用途本試驗設備是航空、汽車、家電、科研等領域*的測試設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

二、小型電子器件恒溫恒濕環(huán)境老化試驗箱結構設計：

2-1. 內外箱材質 測試區(qū)內箱不銹鋼板 （ SUS # 304 ），不銹鋼。
2-2. 外 箱 燈 源 高亮度照明燈
2-3. 同溫層結構設計 有效避免箱體頂部凝結之技術（）,
2-4. 觀 測 視 窗 觀察試品使用 （ W*L 28 * 35 cm ）,
2-5. 窗口防汗設計 采電熱器裝置，防止水氣凝結 （ 40 W ）,
2-6. 測 試 孔 可外接測試電源線及信號用 （ 5.0 cm ）,
2-7. 機 臺 滑 輪 采滑輪移動調整擺放位置與強力螺栓固定位置（200Kg / 輪 ）,
2-8. 保 溫 層 保溫絕緣層耐燃防火 PU ＋ 隔熱玻璃棉（保溫層厚 10.0 cm）,
2-9. 箱 內 盤 架 可活動調整柵盤架與不銹鋼條狀柵盤二只（盤架每間格 5.0 cm）.
2-10. 箱 門 采雙道隔熱氣密迫緊,有效隔絕外部溫度泄漏.

三、恒溫恒濕試驗箱滿足試驗標準：

☆GB10586-89濕熱試驗箱技術條件
☆GB10586-89低溫試驗箱技術條件
☆GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術條件
☆GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
☆GB11158 高溫試驗箱技術條件
☆GB2423.1-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法
☆GB2423.2-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：高溫試驗方法
☆GB/T2423.3-93電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca恒定濕熱試驗方法
☆GJB150.3-86設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗
☆GJB150.4-86設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗
☆GJB150.5-86設備環(huán)境試驗方法 濕度試驗
☆GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法
☆GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法
☆IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
☆IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

四、技術優(yōu)勢

☆廠家大量生產，供貨能力充足。
☆90%的零部件源自進口，保障性能穩(wěn)定，持久耐用。
☆設備外觀采用數(shù)控成形，鈑金縫隙小，穩(wěn)固性強。
☆出廠進行精密性能檢測，保障符合國標和。
☆設備送貨上門，工程師到廠交機，現(xiàn)場培訓操作。
☆保固二年，出現(xiàn)故障會安排技術上門維護。