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當前位置:上海捷徽電子科技有限公司>>電子天平>>XS分析天平>> XS3DU梅特勒電子天平 XS3DU

梅特勒電子天平 XS3DU

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號XS3DU

品       牌

廠商性質生產商

所  在  地上海市

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更新時間:2018-05-14 09:00:00瀏覽次數:481次

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校準方式 :內部校準
精度2 :0.01mg
稱量范圍2 :3.1g
精度 :0.001mg
稱量范圍 :0.8g

梅特勒電子天平  XS3DU

:在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中*的重梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的稱量性能,*基礎稱量應用復性可低至0.8 μg,是獲得理想的稱量可靠性的關鍵,避免不必要的重復測試,顯著地降低了樣品和時間的浪費。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。

標準配置


內置稱量應用程序

TouchScreen觸摸屏,方便天平稱量和參數設置

SmartTrac彩色動態(tài)圖形顯示器:圖形稱量輔助,跟蹤稱量范圍和公差

可設置多達10個特定功能的快捷鍵

可定義3個的信息,用于用戶和樣品標識

內置RS232C和兩個輔助接口;用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件,實現無需用手接觸的稱量操作

第二接口選件插槽;例如LocalCAN,以太網,RS232,MiniMettler,藍牙或PS/2等接口選件

手動開關門的玻璃防風罩

可更換的顯示屏保護蓋

下掛鉤稱量

具有過載保護的稱量傳感器



顯示多種質量單位

差重稱量應用程序

計件和百分比稱量應用程序

統(tǒng)計應用程序

技術指標

極限值


XS3DU 雙量程

zui大稱量值


3.1 g

可讀性


0.01 mg

zui大稱量值


0.8 g

可讀性


0.001 mg

重復性(sd) - 加載處


0.006 mg

- 低加載(加載處)


0.005 mg (0.2 g)

重復性(sd) - 加載處


0.001 mg

- 低加載(加載處)


0.0008 mg (0.2 g)

線性誤差


0.004 mg

四角誤差(加載處)1)


0.005 mg (2 g)

典型值 4)




典型重復性(sd)


0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr

典型微分非線性(sd)


√2x(10-12)g·R_nt

典型微分四角誤差(sd)


1.2 x (10–6)•R_nt

典型靈敏度偏移(sd)2)


3 x (10–6)•R_nt

典型zui小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)


0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr

典型穩(wěn)定時間


< 6 sec

穩(wěn)定時間


< 10 sec

1) 根據OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內
3) *次安裝,使用proFACT校準,靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重(樣品質量) a=年
* 重復性和zui小稱量值可以通過以下措施得以改進:- 選擇適當的稱量參數設置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。

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